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SEM 단면을 위한 나노 과학 평면 표면 처리를 위한 Gatan Ilion+ 견본 준비

Gatan Ilion™는+ 현미경 화상 진찰 및 미량 분석을 위한 어려운 견본에서 평면 단면의 준비에 있는 중요한 어드밴스입니다. Ilion+ 디자인은 입증된 GatanPIPS™ (정밀도 이온 닦는 시스템)에 근거를 둡니다. 입증된 이 필드는, 강력한 플래트홈 넓은 이온살 성과에 있는 업계 표준을 나타내고 부대의 수천을 가진 신뢰도는 세계전반 설치했습니다. 시스템은 사용자 견본을 빨리 만드는 시작하는 허용 설치하고 작전하게 쉽습니다.

배경

nano 설계한 물자에 있는 혁명은 성분과 화합물의 새로운 조합을 산란하고 있습니다. 새로운 물자 조합의 많은 것은 어느 것이든 이국적인 단계 혼합물 (합성물) 또는 층이 된 박막 구조물 (장치) 그 이용 특별한 제품 귀착되는 쪽에 있는 구성요소 nano 물자의 요구한 속성입니다. 구성요소 물자의 공간 관계 그리고 nano 구조상 배열을 이해하기 위하여는, 연구원은 SPM, TEM 및 SEM를 사용하여 분자 원자 수준에 그(것)들을 전망해야 합니다.

점차적으로, 다상과 다층 박막에서 이용된 이국적인 물자의 조합에 의하여 기계적인 닦기에 적절하지 않고 또는 맷돌로 갈기 거짓말을 하지 않습니다. 연약한 물자는 단단한 과민한 물자가 이웃 지구로 입자를 골절하는 흘리는 동안 이웃 구조물에서 얇은 층으로 갈라져 바르거나 되어 경향이 있습니다. 결과는 특징의 확실한 배열의 용인할 수 없는 변경입니다. 동일은 신중한 곡물 또는 단계가 닦고는, 효과적으로 파괴 중요한 공간 정보 및 연속적인 EDX 또는 지상 분석 결과에 영향을 미치는 화학 변칙 소개하기의 전단력에 의해 왜곡될 수 있는 합성물에 확실합니다.

Last Update: 11. January 2012 04:45

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