Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • New HD-AFM Mode; Your Path to Controlling Forces for Precise Material Properties
Site Sponsors
  • Asylum Research manufactures advanced Atomic Force/Scanning Probe Microscopy instruments and accessories
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • NanoTest Vantage a complete nanomechanical and nanotribological test solution

Подготовка Образца Gatan Ilion+ для Подготовки Поверхности Нанотехнологии Плоскостной для Поперечных Сечений SEM

Gatan Ilion™+ значительно выдвижение в подготовку плоскостных поперечных сечений от трудных образцов для микроскопических воображения и микроанализа. Конструкция+ Ilion основана на доказанном GatanPIPS™ (Системе Иона Точности Полируя). Это доказанное поле, робастная платформа представляет индустриальный стандарт в обширном представлении луча иона и надежность с тысячами блоков установила всемирно. Система легка для того чтобы установить и привестись в действие позволять пользователям начать делать образцы быстро.

Предпосылка

Виток в nano-проектированных материалах икрит новые элементы и смеси сочетание из. Много из новых материальных комбинаций любые экзотические смеси участка (смеси) или наслоенные структуры тонкого фильма (приборы) тот подвиг пожеланные свойства компонентных nano-материалов в путях которые приводят к в внесметных продуктах. Для того чтобы понять пространственное отношение и nano-структурное расположение компонентных материалов, исследователя должны осмотреть их на молекулярном или атомном уровне используя SPM, TEM, и SEM.

Все Больше И Больше, материалы сочетание из экзотические используемые в многофазовых и multi-наслоенных тонких фильмах не хороши - одето к механически полировать или FIB филировать. Мягкие материалы клонат смазать или стать delaminated от соседской структуры пока трудные или хрупкие материалы ломают или линяют частицы в соседские зоны. Результат неприемлемое изменение истинного расположения характеристик. Это же истинно с смесями где небезрассудные зерна или участки могут быть передернуты режа усилиями полируя, эффектно разрушая критической пространственной информации и вводить химические аномалии которые влияют на последующее EDX или поверхностные результаты анализа.

Last Update: 11. January 2012 04:51

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this equipment listing?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment