Gatan Ilion™+是在平面橫斷面的準備的重大的預付款從困難範例的微觀想像和微量分析的。 Ilion+ 設計在證明的 GatanPIPS™ (精確度離子擦亮的系統) 基礎上。 此現場以證實，穩健平臺表示工業標準在清楚的離子束性能，并且與千位的可靠性部件安裝了得全世界。 這個系統是容易安裝和運行允許用戶開始迅速做範例。
背景
在納諾設計的材料的革命產生要素和化合物的新的組合。 許多新的物質組合是任一個異乎尋常的階段混合物 (綜合) 或層狀薄膜結構 (設備) 該使用組件納諾材料的期望屬性用導致非常產品的方式。 使用 SPM、 TEM 和 SEM，要瞭解組件材料的空間的關係和納諾結構上的排列，研究員必須查看他們在這個分子或基本級別。
越來越多地，在多元狀況和多層的薄膜用於的異乎尋常的材料的組合不是非常合適的對機械擦亮也不輕擊碾碎。 當困難或易碎的材料破裂或流洒微粒到相鄰的地區時，軟的材料傾向於抹上或變得分成細層從這個相鄰的結構。 這個結果是功能的真的排列的一個不可接受的改變。 同樣對謹慎穀物或階段可能由擦亮的，有效毀壞的重要空間的信息和引入化工反常現象剪切力誤解影響隨後的 EDX 或表面分析結果的綜合是真的。