Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam

Microscopio Electrónico Con Varios Modos De Funcionamiento, LVEM5 de Delong - SEM, TEM y VÁSTAGO

El Delong LVEM5 ofrece un diseño del benchtop, que es una partida importante de la configuración clásica de TEM, y es microscopios electrónicos más pequeño que convencionales del 90%.

Esto es hecha posible por la olumna óptica del electrón corto, que compone el solamente 50% de la altura de LVEM5. Esto significa que el LVEM5 puede ser casi dondequiera proyección de imagen fácilmente instalada del electrón es necesario.

Los microscopios electrónicos Tradicionales requieren generalmente el enfriamiento activo quitar el calor producido por los lentes electromágneticos. El LVEM5 ofrece los lentes del imán permanente que quitan la necesidad para enfriar. Además, su olumna de la óptica de electrón incluye un detector electrónico retrorreflejado (EEB) para poder también (SEM) realizar microscopia electrónica de exploración paralelamente.

Modo de TEM

La microscopia electrónica de Transmisión (TEM) implica la penetración del haz electrónico a través de las secciones finas de materiales a granel, o los nanoparticles depositados sobre las películas finas.

La ventaja nativa aumentada del contraste del LVEM5 es la más pronunciada de modo de TEM.

El LVEM5 es el único microscopio electrónico de la transmisión disponible en una configuración del benchtop. El LVEM5 tamaño pequeño significa que puede ser instalado en casi cualquier laboratorio o espacio de trabajo, sin la necesidad del enfriar, del aislamiento de vibración, o de un de los otros requisitos para TEMs clásico.

Pliego De Condiciones del Modo de TEM

Voltaje de la Operación 5kV
Resolución Modelo Bajo 2nm
Con ALZA de TEM 1,2 nanómetro
Rango de la Magnificación Modelo Bajo 2,200x - 202,000x
Con ALZA de TEM 1,400x - 700,000x
Talla de la Captura de la Imagen 512x512, 1024x1024, 2056x2056
Fuente del Electrón Pistola de la Emisión de Campo (FEG)
Escenario Motorizado Estándar

Modo de SEM

En modo del Microscopio Electrónico (SEM) De Exploración, el haz nunca transmite a través de la muestra, pero se explora a través de la superficie de la muestra. Se crean los Electrones que rebotan de la muestra cerco por un detector electrónico detrás disperso del special (EEB) y una imagen de la estructura y de la composición superficiales.

El controlador aéreo de software y del soporte físico de LVEM5 es simple utilizar, de modo que cualquier persona pueda utilizarlo, no apenas los técnicos entrenados. El panel teledirigido se diseña ergonómicamente, y se puede colocar como sea necesario.

Pliegos De Condiciones del Modo de SEM

Voltaje de la Operación 5kV
Resolución 3nm
Detector EEB
Rango de la Magnificación 640x - 100,000x
Talla de la Captura de la Imagen 512x512, 1024x1024, 2056x2056
Fuente del Electrón Pistola de la Emisión de Campo (FEG)
Escenario Motorizado Estándar

 

Last Update: 17. December 2013 09:36

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment