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Microscópio de Elétron do Multi-Modo, LVEM5 de Delong - SEM, TEM e HASTE

O Delong LVEM5 caracteriza um projecto do benchtop, que seja uma partida significativa da arquitetura clássica de TEM, e é microscópios electrónicos menor do que convencionais de 90%.

Isto é tornado possível pela coluna ótica do elétron curto, que compo somente 50% da altura de LVEM5. Isto significa que o LVEM5 pode ser quase em qualquer lugar imagem lactente facilmente instalada do elétron é necessário.

Os microscópios electrónicos Tradicionais exigem geralmente refrigerar activo remover o calor produzido pelas lentes eletromagnéticas. O LVEM5 caracteriza as lentes do ímã permanente que removem a necessidade para refrigerar. Além, sua coluna do sistema ótico de elétron inclui um detector de elétron backscattered (EBS) de modo que a microscopia de elétron de varredura (SEM) possa igualmente ser realizada paralelamente.

Modo de TEM

A microscopia de elétron de Transmissão (TEM) envolve a penetração do feixe de elétron através das secções finas de materiais de maioria, ou os nanoparticles depositados em filmes finos.

A vantagem nativa aumentada do contraste do LVEM5 é a mais pronunciada no modo de TEM.

O LVEM5 é o único microscópio de elétron da transmissão disponível em uma configuração do benchtop. O tamanho pequeno de LVEM5 significa que pode ser instalado em quase todo o laboratório ou espaço de trabalho, sem a necessidade para refrigerar, isolamento de vibração, ou algumas das outras exigências para TEMs clássico.

Especificação do Modo de TEM

Tensão da Operação 5kV
Definição Modelo Baixo 2nm
Com IMPULSO de TEM 1,2 nanômetro
Escala da Ampliação Modelo Baixo 2,200x - 202,000x
Com IMPULSO de TEM 1,400x - 700,000x
Tamanho da Captação da Imagem 512x512, 1024x1024, 2056x2056
Elétron Source Arma da Emissão de Campo (FEG)
Fase Motorizada Padrão

Modo de SEM

No modo do Microscópio de Elétron (SEM) da Exploração, o feixe nunca transmite através da amostra, mas é feito a varredura através da superfície da amostra. Os Elétrons que repercutirem fora da amostra são recolhidos por um detector de elétron para trás dispersado do special (EBS) e por uma imagem da estrutura e da composição de superfície são criados.

O controlador do software e do hardware de LVEM5 é simples de usar, de modo que qualquer um possa o usar, não apenas técnicos treinados. O painel de controle remoto é projectado ergonomically, e pode ser posicionado como necessário.

Especificações do Modo de SEM

Tensão da Operação 5kV
Definição 3nm
Detector EBS
Escala da Ampliação 640x - 100,000x
Tamanho da Captação da Imagem 512x512, 1024x1024, 2056x2056
Elétron Source Arma da Emissão de Campo (FEG)
Fase Motorizada Padrão

 

Last Update: 17. December 2013 09:35

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