多重状态的电子显微镜、 LVEM5 从 Delong - SEM, TEM 和词根

Delong LVEM5 以 benchtop 设计为特色,是从古典 TEM 结构的重大的启运,并且是 90% 小于常规电子显微镜。

这由短的电子光学列使成为可能,只组成 50% LVEM5 高度。 这意味着 LVEM5 可以是任何地方容易地安装的几乎电子想象是需要的。

传统电子显微镜一般要求活性冷却取消电磁式透镜导致的热。 LVEM5 以去除冷却的必要性的永磁铁透镜为特色。 另外,其电子光学列包括一台 backscattered 电子探测器 (BSE),以便浏览的电子显微镜术 (SEM)可能平行也被执行。

TEM 模式

透射电镜术 (TEM)介入电子束的渗透通过粒状材料的稀薄的部分或者 nanoparticles 存款在薄膜上。

LVEM5 的改进的当地对比好处是最显著的在 TEM 模式下。

LVEM5 是唯一的传输电子显微镜可用在 benchtop 配置。 小型的 LVEM5 意味着它在几乎所有实验室或工作区可以被安装,不用对冷却的需要,隔振,或者古典 TEMs 的其他需求中的任一个。

TEM 模式说明

运算电压 5kV
解决方法 基本模型 2nm
TEM 提高 1.2 毫微米
放大范围 基本模型 2,200x - 202,000x
TEM 提高 1,400x - 700,000x
图象获取范围 512x512, 1024x1024, 2056x2056
电子来源 场致发射枪 (FEG)
动力化的阶段 标准

SEM 模式

在扫描电子显微镜 (SEM)模式下,这条射线通过这个范例从未传输,但是在这个范例的表面间浏览。 反弹这个范例的电子由特殊分散的电子探测器 (BSE) 和表面结构和构成的图象收集被创建。

LVEM5 软件和硬件管理员方便操作,因此任何人可能使用它,不仅仅被培训的技术人员。 遥控面板符合人体工程学地被设计,并且可以确定如所需求。

SEM 模式说明

运算电压 5kV
解决方法 3nm
探测器 BSE
放大范围 640x - 100,000x
图象获取范围 512x512, 1024x1024, 2056x2056
电子来源 场致发射枪 (FEG)
动力化的阶段 标准

 

Last Update: 17. December 2013 09:34

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