EQS-SekundärIonenMassenSpektrometer-Schraube Auf SIMS-Analysegerät von Hiden Analytisch

EQS-SekundärIonenMassenSpektrometer-Schraube Auf SIMS-Analysegerät von Hiden Analytisch

hochmodern, Fühler Boltons SIMS für Integration in Ihre vorhandene UHV-Oberflächen-Wissenschaftskammer

  • Statisches/Dynamisches SIMS mit Energieanalyse
  • Integrales Vorderseite ioniser für RGA
  • Zusammensetzungs-/Verunreinigungsanalyse
  • Tiefenein profil erstellen
  • Lecksuche und desorbierte Gasanalyse
  • Kompatibel mit Arbeitsplatz Hiden SIMS
  • Geeignet für FIB-SIMS Integration

Bedingung für 1000 Serie EQS

  • 5x105 cps/nA für 27Al+ vom Alziel unter Bombardierung 5keV+ AR
  • 100 cps/nA für Cs (CsI)3+ an 913amu von CsI-Ziel unter Bombardierung 5keV2+ O

Das EQS-Sekundärionenmassenspektrometer für die Analyse von positiven und negativen zweitensionen von den festen Proben, kennzeichnend:

  • Hohes Empfindlichkeits-Impuls-Ion, das Detektor mit den Dynamikwerten von 7 Jahrzehnt Zählt.
  • Raster Regelung für das erhöhte Tiefenein profil erstellen und Darstellung mit dem integrierten Signalmit einem gatter versehen.
  • Elektrostatisches Analysegerät des Sektors 45°, Scan-Energie bei 0,05 eV Erhöhungen 0.25eV FWHM.
  • Minimale Störung des Ionenflugweges u. der konstanten Ionenübertragung an aller Energie.
  • Dreifacher Filter Quadrupol, Massenoptionen zu amu 2500.
  • Einsperren des Anzeigeinstruments und der Verriegelungen, um über Druckschutz zur Verfügung zu stellen.
  • Differenzial gepumpte Option für Gebrauch in den Hochdruckumgebungen.
  • MASsoft-Regelung über RS232, RS485 oder Ethernet LAN.
  • Leicht angeschlossen zu vorhandenen Anlagen

Last Update: 25. April 2013 13:17

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