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Tornillo Secundario del Espectrómetro de Masas del Ión de EQS En Analizador de SIMS de Hiden Analítico

estado plus ultra, antena de Bolton SIMS para la integración en su compartimiento existente de la ciencia de la superficie de UHV

  • SIMS Estático/Dinámico con análisis de energía
  • Ioniser Integral de la parte frontal para RGA
  • Análisis de la Composición/de la contaminación
  • Perfilado de la Profundidad
  • Detección de Escape y análisis de gas deabsorbido
  • Compatible con el Puesto De Trabajo de Hiden SIMS
  • Conveniente para la integración de FIB-SIMS

Pliego De Condiciones para 1000 Series EQS

  • 5x105 cps/nA para 27el Al+ de la meta del Al bajo bombardeo de 5keV+ AR
  • 100 cps/nA para el Cs (CsI)3+ en 913amu de la meta de CsI bajo bombardeo de 5keV2+ O

El espectrómetro de masas secundario del ión de EQS para el análisis del positivo y de iones negativo secundarios de muestras sólidas, ofreciendo:

  • Alto Ión del Pulso de la Sensibilidad Que Cuenta el detector con el rango dinámico de 7 décadas.
  • Mando del Retículo para el perfilado aumentado de la profundidad y proyección de imagen con bloquear integrado de la señal.
  • analizador Electroestático del Sector 45°, energía de la exploración en 0,05 incrementos 0.25eV FWHM del eV.
  • Perturbación Mínima del camino de vuelo del ión y de la transmisión constante del ión en todas las energías.
  • Tetrapolo Triple del filtro, opciones en masa al amu 2500.
  • Encierro del Indicador y de interruptores de seguridad para proporcionar sobre la protección de la presión.
  • Opción Diferenciado bombeada para el uso en los ambientes de alta presión.
  • Mando de MASsoft vía RS232, RS485 o el LAN de Ethernet.
  • Interconectado Fácilmente a los sistemas existentes

Last Update: 25. April 2013 13:19

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