Pénétrateur Nano G200 d'Agilent

Le Pénétrateur Nano G200 d'Agilent est le monde l'instrument le plus précis, le plus flexible, et convivial pour le test mécanique de nanoscale. La mise en fonction Électromagnétique lui permet de réaliser l'unique dynamique en vigueur et le déplacement. Le Pénétrateur G200 Nano permet à des utilisateurs de mesurer le module De Young et la dureté conformément à OIN 14577. Il active également la mesure de la déformation plus de six ordres de grandeur (des nanomètres aux mm). Un grand choix d'options fournies par des Technologies d'Agilent peuvent être ajoutées pour satisfaire des besoins de test.

Les capacités du Pénétrateur G200 Nano peuvent être étendues pour faciliter le test fréquence-particulier, le brouillon quantitatif et l'essai d'usure, la représentation sonde-basée intégrée, le test à hautes températures, la capacité de charge augmentée jusqu'à 10 N, et les protocoles personnalisables de test. Les Utilisateurs peuvent mesurer la relation entre la structure, les propriétés, et la performance de leurs matériaux rapidement et facilement avec la préparation des échantillons minimale.

La configuration normale du Pénétrateur G200 Nano emploie la tête d'indentation de XP d'Agilent, qui livre <0>

Les Fonctionnalités clé du Pénétrateur G200 Nano comprennent :

  • A Les Moyens des chercheurs surface utilisable de 100mm x de 100mm pour le test
  • La mise en fonction Électromagnétique permet l'unique dynamique en vigueur et le déplacement
  • L'instrument Flexible et extensible de nanoindentation peut être configuré pour beaucoup d'applications
  • L'option Élevée de Charge augmente des capacités de charge de nanoindenter jusqu'à 10 N de force
  • L'option Neuve de DCM II offre à 3x une capacité plus élevée de charge que l'option initiale de DCM
  • L'option de LFM fournit l'analyse quantitative 3D pour le test de brouillon et d'usure, sondage de MEMs

Les capacités de Performance du Pénétrateur G200 Nano sont comme suit :

  • Semi-conducteur, films minces, MEMs, couches dures, films de DLC, métaux, céramique, composés
  • Également idéal pour l'usage dans les applications concernant des polymères, biomatériaux, biologie
  • Fournit à des résultats précis et reproductibles conformes la norme d'OIN 14577
  • Caractérisation de propriétés Dynamiques par l'intermédiaire de la mesure continue de la raideur par profondeur d'indentation
  • Méthode Exclusive de nanoindenter pour des mesures substrat-indépendantes des matériaux de film mince
  • contrôle en temps réel, développement facile de protocole de test, compensation de chassoir de précision par l'intermédiaire de logiciel

Last Update: 3. February 2012 16:22

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