Pointprobe-Silikon FLUGHANDBUCH-Fühler von Nanoworld

Das Pointprobeï-¿ ½ ist ein vielseitiger Silikon FLUGHANDBUCH-Fühler für sehr Darstellung und Sitze der hohen Auflösung zu allem weithin bekannten Handels-SPMs (Scannen-Fühler-Mikroskope). Es besteht aus einem Silikonkragbalken des einzelnen Kristalles mit integrierter Silikonspitze des einzelnen Kristalles. Der Kragbalken und das Umkippung werden durch eine Silikonhalterung des einzelnen Kristalles unterstützt. Wahre Atomauflösung ist durch einige Forschungsteildienste in UHV unter Verwendung der Berührungsfreien/TappingMode FLUGHANDBUCH-Fühler NCH und NCL erzielt worden.

Baumuster ReflexBeschichtung Speziell Kraft Konstante Res. Frequenz
Kontaktmodus FORT. Kein oder Reflex n.a. 0,2 N/m 13 kHz
Kontaktmodus (Kurzer Kragbalken) CONTSC Kein oder Reflex n.a. 0,2 N/m 25 kHz
Kontaktmodus, Seiko oder Zeiss ZEILR Reflex n.a. 1,6 N/m 27 kHz
Berührungsfreier/klopfender Modus
(Hochfrequenz)
NCH Kein oder Reflex AR5, AR10, AR5T
SSS, PtIr5, PAPIERLÖSEKOROTRON, CDT
42 N/m 330 kHz
Berührungsfreies/weiches Klopfen NCST Kein oder Reflex n.a. 7,4 N/m 160 kHz
Berührungsfreier/klopfender Modus
(lang Kragbalken)
NCL Kein oder Reflex SSS, AR5, PAPIERLÖSEKOROTRON, CDT 48 N/m 190 kHz
Berührungsfreier/klopfender Modus
(Berührungsfreier Modus Seiko)
SEIHR Reflex SSS 15 N/m 130 kHz
Kraftmodulationsmodus FM Kein oder Reflex PAPIERLÖSEKOROTRON, CDT 2,8 N/m 75 kHz
Mikroskopie der Elektrostatischen Kraft EFM n.a. n.a. 2,8 N/m 75 kHz
Mikroskopie der Magnetischen Kraft
Hartes magnetisches (tipside)
MFMR Reflex n.a. 2,8 N/m 75 kHz
Mikroskopie der Magnetischen Kraft
Weiches magnetisches (tipside)
S-MFMR Reflex n.a. 2,8 N/m 75 kHz

Alle Daten sind abhängig von Änderung ohne vorherige Ankündigung.
Alle Daten sind typische Werte, denn garantierte Bedingungen sehen ausführliche Beschreibung von sondenartigem.

Darüber hinaus können spezielle Silikon FLUGHANDBUCH-Fühler auf die Anfrage des Abnehmers konstruiert werden und hergestellt werden.

SSS - > SuperSharpSilicon-Spitze
AR5 - > Hoch Längenverhältnis-Spitze (5: 1)
AR10 - > Heigh-Längenverhältnis (10: 1)
AR5T - > Neigung Kompensierte Hohe Längenverhältnis-Spitze (5: 1)
PAPIERLÖSEKOROTRON - > Diamant Beschichtete Spitze
CDT - > Leitfähiger Diamant Beschichtete Spitze
PtIr5 - > Beschichtung des Platin-Iridium-5
Reflex - > AluminiumBeschichtung


Allgemein

  • SPM-Fühler für sehr Darstellung der hohen Auflösung
  • Sitze zu allem weithin bekannten Handels-SPMs
  • Mnolithic-Auslegung der Halterung, des Kragbalkens und der Spitze
  • Spitze zeigt in die <100> Richtung
  • Kragbalken und Umkippung werden durch eine Silikonhalterung des einzelnen Kristalles unterstützt

Materielle Merkmale

  • Silikon des In Hohem Grade lackierten, einzelnen Kristalles
  • Hohe Leitfähigkeit des lackierten Silikons vermeidet die elektrostatische Aufladung
  • Resistively ist so niedrig wie 0.01-0.025 Ohm*cm.
  • Kein tatsächlicher Druck und absolut geraden Kragbalken
  • Kein Verbiegen des Kragbalkens durch das Ändern von Temperaturen
  • Chemisch träges Silikon für Anwendung in den Flüssigkeiten oder in den elektrochemischen Zellen

Freitragend

  • Trapezoider Querschnitt des Kragbalkens
  • Ziemlich breite Detektorseite für einfache Einstellung
  • Kleine Breite an der Spitzenseite verringert die Schäden

Â-Halterung

  • Kragbalken wird an einer Silikonhalterung befestigt
  • Abmessungen der Halterung sind sehr reproduzierbar
  • Austausch des Fühlers ohne bedeutende Nachstellung
  • Geätzte Ecken der Halterung vermeiden Kontakt zwischen der Halterung und der Probe

Spitze

  • Spitze ist wie eine Polygon basierte Pyramide geformt und befindet sich am eigentlichen Ende des Kragbalkens
  • Makroskopische Halbkegel Winkel
    - sind ¿ 20ï ½ zu ¿ 25ï ½, das entlang dem freitragenden Schwerpunkt gesehen wird
    - sind ¿ 25ï ½ zu ¿ 30ï ½, das von der Seite gesehen wird
    - laufen Sie zu praktisch null am eigentlichen Ende der Spitze spitz zu
  • Spitzenradien sind gewöhnlich besser als 10 nm
  • Spitzenhöhe ist ï 10-15 ¿ ½ m

Für mehr Informationskontakt www.nanworld.com

Last Update: 18. February 2012 08:23

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