Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

De Sondes van het Silicium AFM van Pointprobe- van Nanoworld

Pointprobeï ¿ ½ is een veelzijdige siliciumAFM sonde voor zeer hoge resolutieweergave en pasvormen aan al bekende commerciële SPMs (de Microscopen van de Sonde van het Aftasten). Het bestaat uit een cantilever van het enig kristalsilicium met het geïntegreerde uiteinde van het enig kristalsilicium. De cantilever en het uiteinde worden gesteund door een houder van het enig kristalsilicium. De Ware atoomresolutie is bereikt door verscheidene onderzoekfaciliteiten in UHV gebruikend de sondes NCH en NCL van het niet-Contact/van TappingMode AFM.

Type Reflex Deklaag Speciaal De Constante van de Kracht Onderzoek. Frequentie
De wijze van het Contact INH. Niets of reflex n.a. 0.2 N/m kHz 13
De wijze van het Contact (Korte Cantilever) CONTSC Niets of reflex n.a. 0.2 N/m kHz 25
De wijze, Seiko of Zeiss van het Contact ZEILR Reflex n.a. 1.6 N/m kHz 27
Niet-Contact/het onttrekken van wijze
(hoge frequentie)
NCH Niets of reflex AR5, AR10, AR5T
SSS, PtIr5, DT, CDT
42 N/m kHz 330
Niet-Contact/het zachte onttrekken NCST Niets of reflex n.a. 7.4 N/m kHz 160
Niet-Contact/het onttrekken van wijze
(lange cantilever)
NCL Niets of reflex SSS, AR5, DT, CDT 48 N/m kHz 190
Niet-Contact/het onttrekken van wijze
(Seiko niet-contactwijze)
SEIHR Reflex SSS 15 N/m kHz 130
De modulatiewijze van de Kracht FM Niets of reflex DT, CDT 2.8 N/m kHz 75
De Elektrostatische krachtmicroscopie EFM n.a. n.a. 2.8 N/m kHz 75
De Magnetische krachtmicroscopie
Harde magnetisch (tipside)
MFMR Reflex n.a. 2.8 N/m kHz 75
De Magnetische krachtmicroscopie
Zachte magnetisch (tipside)
S-MFMR Reflex n.a. 2.8 N/m kHz 75

Alle gegevens zijn voor wijzigingen vatbaar zonder bericht.
Alle gegevens zijn typische waarden, voor gewaarborgde specificaties zie detaillering van sondetype.

Bovendien kunnen de speciale siliciumAFM sondes op het verzoek van de klant worden ontworpen en worden vervaardigd.

SSS - > Uiteinde SuperSharpSilicon
AR5 - > Hoge Aspectverhouding Uiteinde (5:1)
AR10 - > Heigh Aspectverhouding (10:1)
AR5T - > Schuine Stand Gecompenseerde Hoge Aspectverhouding Uiteinde (5:1)
DT - > Diamant Met Een Laag Bedekt Uiteinde
CDT - > Geleidend Diamant Met Een Laag Bedekt Uiteinde
PtIr5 - > Iridium 5 van het Platina Deklaag
Reflex - > de Deklaag van het Aluminium


Algemeen

  • Sonde SPM voor zeer hoge resolutieweergave
  • Pasvormen aan al bekende commerciële SPMs
  • Het ontwerp van Mnolithic van houder, cantilever en uiteinde
  • Het Uiteinde richt in de <100> richting
  • De Cantilever en het uiteinde worden gesteund door een houder van het enig kristalsilicium

Materiële Eigenschappen

  • Hoogst gesmeerd, enig kristalsilicium
  • Het Hoge geleidingsvermogen van het gesmeerde silicium vermijdt het elektrostatische laden
  • Resistively is zo laag zoals 0.01-0.025 Ohm*cm.
  • Geen intrinsieke spanning en absoluut rechte cantilevers
  • Geen het buigen van cantilever door temperaturen te veranderen
  • Chemisch inert silicium voor toepassing in vloeistoffen of elektrochemische cellen

Cantilever

  • Trapezoïdale dwarsdoorsnede van de cantilever
  • Eerder brede detectorkant voor gemakkelijke aanpassing
  • De Kleine breedte aan de uiteindekant vermindert de schade

 Houder

  • De Cantilever wordt bevestigd aan een siliciumhouder
  • De Afmetingen van de houder zijn zeer reproduceerbaar
  • Vervanging van sonde zonder belangrijke heraanpassing
  • De Geëtste hoeken van de houder vermijden contact tussen de houder en de steekproef

Uiteinde

  • Het Uiteinde wordt gestalte gegeven als een veelhoek gebaseerde piramide en bij het einde van de cantilever gevestigd
  • Macroscopische helft-kegel hoeken
    - zijn 20ï ¿ ½ aan 25ï ¿ ½ die langs de cantileveras wordt gezien
    - zijn 25ï ¿ ½ aan 30ï ¿ ½ die van de kant wordt gezien
    - versmalling aan vrijwel nul bij het einde van het uiteinde
  • De stralen van het Uiteinde zijn typisch beter dan 10 NM
  • De hoogte van het Uiteinde is 10-15 ï ¿ ½ m

Voor meer informatiecontact www.nanworld.com

Last Update: 18. February 2012 08:22

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment