Pointprobeï ¿ ½ is een veelzijdige siliciumAFM sonde voor zeer hoge resolutieweergave en pasvormen aan al bekende commerciële SPMs (de Microscopen van de Sonde van het Aftasten). Het bestaat uit een cantilever van het enig kristalsilicium met het geïntegreerde uiteinde van het enig kristalsilicium. De cantilever en het uiteinde worden gesteund door een houder van het enig kristalsilicium. De Ware atoomresolutie is bereikt door verscheidene onderzoekfaciliteiten in UHV gebruikend de sondes NCH en NCL van het niet-Contact/van TappingMode AFM.
| Type | Reflex Deklaag | Speciaal | De Constante van de Kracht | Onderzoek. Frequentie |
| De wijze van het Contact | INH. | Niets of reflex | n.a. | 0.2 N/m | kHz 13 |
| De wijze van het Contact (Korte Cantilever) | CONTSC | Niets of reflex | n.a. | 0.2 N/m | kHz 25 |
| De wijze, Seiko of Zeiss van het Contact | ZEILR | Reflex | n.a. | 1.6 N/m | kHz 27 |
Niet-Contact/het onttrekken van wijze
(hoge frequentie) | NCH | Niets of reflex | AR5, AR10, AR5T
SSS, PtIr5, DT, CDT | 42 N/m | kHz 330 |
| Niet-Contact/het zachte onttrekken | NCST | Niets of reflex | n.a. | 7.4 N/m | kHz 160 |
Niet-Contact/het onttrekken van wijze
(lange cantilever) | NCL | Niets of reflex | SSS, AR5, DT, CDT | 48 N/m | kHz 190 |
Niet-Contact/het onttrekken van wijze
(Seiko niet-contactwijze) | SEIHR | Reflex | SSS | 15 N/m | kHz 130 |
| De modulatiewijze van de Kracht | FM | Niets of reflex | DT, CDT | 2.8 N/m | kHz 75 |
| De Elektrostatische krachtmicroscopie | EFM | n.a. | n.a. | 2.8 N/m | kHz 75 |
De Magnetische krachtmicroscopie
Harde magnetisch (tipside) | MFMR | Reflex | n.a. | 2.8 N/m | kHz 75 |
De Magnetische krachtmicroscopie
Zachte magnetisch (tipside) | S-MFMR | Reflex | n.a. | 2.8 N/m | kHz 75 |
Alle gegevens zijn voor wijzigingen vatbaar zonder bericht.
Alle gegevens zijn typische waarden, voor gewaarborgde specificaties zie detaillering van sondetype.
Bovendien kunnen de speciale siliciumAFM sondes op het verzoek van de klant worden ontworpen en worden vervaardigd.
SSS - > Uiteinde SuperSharpSilicon
AR5 - > Hoge Aspectverhouding Uiteinde (5:1)
AR10 - > Heigh Aspectverhouding (10:1)
AR5T - > Schuine Stand Gecompenseerde Hoge Aspectverhouding Uiteinde (5:1)
DT - > Diamant Met Een Laag Bedekt Uiteinde
CDT - > Geleidend Diamant Met Een Laag Bedekt Uiteinde
PtIr5 - > Iridium 5 van het Platina Deklaag
Reflex - > de Deklaag van het Aluminium
Algemeen
- Sonde SPM voor zeer hoge resolutieweergave
- Pasvormen aan al bekende commerciële SPMs
- Het ontwerp van Mnolithic van houder, cantilever en uiteinde
- Het Uiteinde richt in de <100> richting
- De Cantilever en het uiteinde worden gesteund door een houder van het enig kristalsilicium
Materiële Eigenschappen
- Hoogst gesmeerd, enig kristalsilicium
- Het Hoge geleidingsvermogen van het gesmeerde silicium vermijdt het elektrostatische laden
- Resistively is zo laag zoals 0.01-0.025 Ohm*cm.
- Geen intrinsieke spanning en absoluut rechte cantilevers
- Geen het buigen van cantilever door temperaturen te veranderen
- Chemisch inert silicium voor toepassing in vloeistoffen of elektrochemische cellen
Cantilever
- Trapezoïdale dwarsdoorsnede van de cantilever
- Eerder brede detectorkant voor gemakkelijke aanpassing
- De Kleine breedte aan de uiteindekant vermindert de schade
 Houder
- De Cantilever wordt bevestigd aan een siliciumhouder
- De Afmetingen van de houder zijn zeer reproduceerbaar
- Vervanging van sonde zonder belangrijke heraanpassing
- De Geëtste hoeken van de houder vermijden contact tussen de houder en de steekproef
Uiteinde
- Het Uiteinde wordt gestalte gegeven als een veelhoek gebaseerde piramide en bij het einde van de cantilever gevestigd
- Macroscopische helft-kegel hoeken
- zijn 20ï ¿ ½ aan 25ï ¿ ½ die langs de cantileveras wordt gezien
- zijn 25ï ¿ ½ aan 30ï ¿ ½ die van de kant wordt gezien
- versmalling aan vrijwel nul bij het einde van het uiteinde - De stralen van het Uiteinde zijn typisch beter dan 10 NM
- De hoogte van het Uiteinde is 10-15 ï ¿ ½ m
Voor meer informatiecontact www.nanworld.com