Зонды AFM Кремния Pointprobe- от Nanoworld

Зонды AFM Кремния Pointprobe- от Nanoworld

½ ¿ Pointprobeï разносторонний зонд AFM кремния для очень высоких воображения и пригонок разрешения к всему известный коммерчески SPMs (Микроскопам Зонда Скеннирования). Оно состоит из cantilever кремния одиночного кристалла с интегрированной подсказкой кремния одиночного кристалла. Cantilever и подсказка поддержаны держателем кремния одиночного кристалла. Истинное атомное разрешение было достигано несколькими средств исследования в UHV используя зонды NCH и NCL Внеконтактных/TappingMode AFM.

Тип Рефлекторное Покрытие Специально Коэффициент Упругой Связи Res. Частота
Режим Контакта CONT Никакие или отражение n.a. 0,2 N/m 13 КГц
Режим Контакта (Короткий Cantilever) CONTSC Никакие или отражение n.a. 0,2 N/m 25 КГц
Режим Контакта, Seiko или Zeiss ZEILR Отражение n.a. 1,6 N/m 27 КГц
Внеконтактный/выстукивая режим
(частота коротковолнового диапазона)
NCH Никакие или отражение AR5, AR10, AR5T
SSS, PtIr5, DT, CDT
42 N/m 330 КГц
Внеконтактный/мягкий выстукивать NCST Никакие или отражение n.a. 7,4 N/m 160 КГц
Внеконтактный/выстукивая режим
(длиной cantilever)
NCL Никакие или отражение SSS, AR5, DT, CDT 48 N/m 190 КГц
Внеконтактный/выстукивая режим
(Режим Seiko внеконтактный)
SEIHR Отражение SSS 15 N/m 130 КГц
Режим модуляции Усилия FM Никакие или отражение DT, CDT 2,8 N/m 75 КГц
Микроскопия Силы электростатического поля EFM n.a. n.a. 2,8 N/m 75 КГц
Микроскопия Магнитной силы
Трудная магнитная (tipside)
MFMR Отражение n.a. 2,8 N/m 75 КГц
Микроскопия Магнитной силы
Мягкая магнитная (tipside)
S-MFMR Отражение n.a. 2,8 N/m 75 КГц

Все данные подлеубежал изменение без извещения.
Все данные типичные значения, ибо гарантированные спецификации видят детальное описание типа зонда.

В добавлении, специальные зонды AFM кремния можно конструировать и изготовить на запросе клиента.

SSS - > Подсказка SuperSharpSilicon
AR5 - > Высоко Подсказка Коэффициента Сжатия (5: 1)
AR10 - > Коэффициент Сжатия Heigh (10: 1)
AR5T - > Компенсированная Наклоном Высокая Подсказка Коэффициента Сжатия (5: 1)
DT - > Подсказка Покрынная Диамантом
CDT - > Проводным Подсказка Покрынная Диамантом
PtIr5 - > Покрытие Иридия 5 Платины
Отражение - > Алюминиевое Покрытие


Дженерал

  • Зонд SPM для очень высокого воображения разрешения
  • Пригонки к всему известный коммерчески SPMs
  • Конструкция Mnolithic держателя, cantilever и подсказки
  • Подсказка указывает в <100> направление
  • Cantilever и подсказка поддержаны держателем кремния одиночного кристалла

Материальные Характеристики

  • Кремний Сильно данного допинг, одиночного кристалла
  • Высокая проводимость данного допинг кремния во избежание электростатический поручать
  • Resistively как низко как 0.01-0.025 Ohm*cm.
  • Отсутствие внутреннеприсущее усилие и совершенно прямые cantilevers
  • Отсутствие гнуть cantilever путем изменять температуры
  • Химически инертный кремний для применения в жидкостях или электрохимических клетках

Консольно

  • Трапецеидальное сечение cantilever
  • Довольно широкая сторона детектора для легкой регулировки
  • Малая ширина на стороне подсказки уменьшает повреждения

Держатель Â

  • Cantilever зафиксирован к держателю кремния
  • Размеры держателя очень возпроизводимые
  • Замена зонда без главной подрегулировки
  • Вытравленные углы держателя во избежание контакт между держателем и образцом

Подсказка

  • Подсказка форменна как пирамидка основанная полигоном и расположена на очень конце cantilever
  • Макроскопические углы половин-конуса
    - ½ ¿ 20ï к ½ ¿ 25ï увиденному вдоль консольной оси
    - ½ ¿ 25ï к ½ ¿ 30ï увиденному от стороны
    - сплющите к фактически zero на очень конце подсказки
  • Радиусы Подсказки типично более лучшие чем 10 nm
  • Высота Подсказки ½ m ¿ ï 10-15

Для больше контакта www.nanworld.com информации

Last Update: 18. February 2012 08:24

Other Equipment by this Supplier