½ ¿ Pointprobeï разносторонний зонд AFM кремния для очень высоких воображения и пригонок разрешения к всему известный коммерчески SPMs (Микроскопам Зонда Скеннирования). Оно состоит из cantilever кремния одиночного кристалла с интегрированной подсказкой кремния одиночного кристалла. Cantilever и подсказка поддержаны держателем кремния одиночного кристалла. Истинное атомное разрешение было достигано несколькими средств исследования в UHV используя зонды NCH и NCL Внеконтактных/TappingMode AFM.
| Тип | Рефлекторное Покрытие | Специально | Коэффициент Упругой Связи | Res. Частота |
| Режим Контакта | CONT | Никакие или отражение | n.a. | 0,2 N/m | 13 КГц |
| Режим Контакта (Короткий Cantilever) | CONTSC | Никакие или отражение | n.a. | 0,2 N/m | 25 КГц |
| Режим Контакта, Seiko или Zeiss | ZEILR | Отражение | n.a. | 1,6 N/m | 27 КГц |
Внеконтактный/выстукивая режим
(частота коротковолнового диапазона) | NCH | Никакие или отражение | AR5, AR10, AR5T
SSS, PtIr5, DT, CDT | 42 N/m | 330 КГц |
| Внеконтактный/мягкий выстукивать | NCST | Никакие или отражение | n.a. | 7,4 N/m | 160 КГц |
Внеконтактный/выстукивая режим
(длиной cantilever) | NCL | Никакие или отражение | SSS, AR5, DT, CDT | 48 N/m | 190 КГц |
Внеконтактный/выстукивая режим
(Режим Seiko внеконтактный) | SEIHR | Отражение | SSS | 15 N/m | 130 КГц |
| Режим модуляции Усилия | FM | Никакие или отражение | DT, CDT | 2,8 N/m | 75 КГц |
| Микроскопия Силы электростатического поля | EFM | n.a. | n.a. | 2,8 N/m | 75 КГц |
Микроскопия Магнитной силы
Трудная магнитная (tipside) | MFMR | Отражение | n.a. | 2,8 N/m | 75 КГц |
Микроскопия Магнитной силы
Мягкая магнитная (tipside) | S-MFMR | Отражение | n.a. | 2,8 N/m | 75 КГц |
Все данные подлеубежал изменение без извещения.
Все данные типичные значения, ибо гарантированные спецификации видят детальное описание типа зонда.
В добавлении, специальные зонды AFM кремния можно конструировать и изготовить на запросе клиента.
SSS - > Подсказка SuperSharpSilicon
AR5 - > Высоко Подсказка Коэффициента Сжатия (5: 1)
AR10 - > Коэффициент Сжатия Heigh (10: 1)
AR5T - > Компенсированная Наклоном Высокая Подсказка Коэффициента Сжатия (5: 1)
DT - > Подсказка Покрынная Диамантом
CDT - > Проводным Подсказка Покрынная Диамантом
PtIr5 - > Покрытие Иридия 5 Платины
Отражение - > Алюминиевое Покрытие
Дженерал
- Зонд SPM для очень высокого воображения разрешения
- Пригонки к всему известный коммерчески SPMs
- Конструкция Mnolithic держателя, cantilever и подсказки
- Подсказка указывает в <100> направление
- Cantilever и подсказка поддержаны держателем кремния одиночного кристалла
Материальные Характеристики
- Кремний Сильно данного допинг, одиночного кристалла
- Высокая проводимость данного допинг кремния во избежание электростатический поручать
- Resistively как низко как 0.01-0.025 Ohm*cm.
- Отсутствие внутреннеприсущее усилие и совершенно прямые cantilevers
- Отсутствие гнуть cantilever путем изменять температуры
- Химически инертный кремний для применения в жидкостях или электрохимических клетках
Консольно
- Трапецеидальное сечение cantilever
- Довольно широкая сторона детектора для легкой регулировки
- Малая ширина на стороне подсказки уменьшает повреждения
Держатель Â
- Cantilever зафиксирован к держателю кремния
- Размеры держателя очень возпроизводимые
- Замена зонда без главной подрегулировки
- Вытравленные углы держателя во избежание контакт между держателем и образцом
Подсказка
- Подсказка форменна как пирамидка основанная полигоном и расположена на очень конце cantilever
- Макроскопические углы половин-конуса
- ½ ¿ 20ï к ½ ¿ 25ï увиденному вдоль консольной оси
- ½ ¿ 25ï к ½ ¿ 30ï увиденному от стороны
- сплющите к фактически zero на очень конце подсказки - Радиусы Подсказки типично более лучшие чем 10 nm
- Высота Подсказки ½ m ¿ ï 10-15
Для больше контакта www.nanworld.com информации