Pontas De Prova de NT-MDT para CONTACT/SEMICONTACT de Scanwel

Pontas De Prova de NT-MDT para CONTACT/SEMICONTACT de Scanwel

Devido aos valores médios da constante de força e da freqüência ressonante as pontas de prova da série CSG30 de NT-MDT podem ser usadas no contacto, no semicontact e no modo noncontact.

Projetado Especificamente para pedidos quando não for definido claramente que modo deve ser usado, para a investigação da amostra ou quando for necessário fornecer medidas em ambos os modos da mesma área da amostra sem remover a ponta.

CSG30 Série, especificações da Ponta De Prova:

  • Material - Silicone do Único Cristal, N-Tipo, 0.01-0.025 Ohm-Cm, Antimónio lubrificado
  • Tamanho da Microplaqueta - 3.4x1.6x0.3mm3
  • Lado Reflexivo - Au
  • Número do Modilhão - 1 retangular
  • Raio da curvatura da Ponta - 6nm típico, 10nm garantido
  • Revestimentos Disponíveis - PtIr Condutor
  • Ponta de prova Disponível - desencapada, tipless, com o revestimento reflexivo do Al

Série do Modilhão
Comprimento do Modilhão, L+5μm
Largura do Modilhão, W+3μm
Espessura do Modilhão, T+0.5μm
Freqüência Ressonante, quilohertz
Constante de Força, N/m
acta
típico
máximo
acta
típico
máximo
CSG30
190
30
1,5
26
48
76
0,13
0,6
2

Last Update: 27. February 2012 19:51

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