7500 Keysight の技術からの光学顕微鏡を逆にしました

Keysight の技術は 7500 を逆にしました高解像の (ILM)原子力の顕微鏡の力の逆にされた光学顕微鏡の直接光学観覧の機能を統合する光学顕微鏡システムを導入しました (AFM)。

7500 ILM は優秀なパフォーマンスを提供し、液体の容易なイメージ投射を促進し、そして単一ポリマー、分子、全セルおよび細胞膜のカバー調査に AFM ユーティリティを拡張します。 Keysight ILM、光学、蛍光性および原子力の顕微鏡検査データを使用して同時に集まることができます。

さらに、 7500 ILM の険しい段階の構造は副ナノメーターの解像度を達成するために必要な低雑音の床を提供します。 従って洗練されたデザインはまた AFM が画像のための改善された光学対照に終って逆にされた顕微鏡の上にそして照明の柱の下に、置かれることを可能にします。

版および QuickSlide のサンプルローディングのメカニズムを扱う Keysight の適用範囲が広いサンプルはサンプル準備が容易、簡単であるようにします。 AFM は QuickSlide アセンブリにユーザーが光学顕微鏡または AFM のアラインメントに影響を与えないで容易にサンプルおよび解決を変更できるように、置かれます。

主要特点

7500 ILM の主な特長は下記のものを含んでいます:

  • トップダウンのスキャンナーデザインは容易なセットアップを可能にします
  • 逆にされた光学顕微鏡の高解像 AFM は AFM および蛍光性イメージ投射を同時に可能にします
  • オープントップの観覧アクセス、逆にされた光学眺めおよび上の照明は優秀な光学対照を提供します
  • 特許を取られた MAC のモードオプションは液体のサンプルの非破壊的な AFM イメージ投射を提供します
  • 堅い段階の土台は副ナノメーターの解像度のための低雑音の床を提供します
  • PicoTREC オプションはリアルタイムの、並行地形および認識イメージ投射を提供します
  • 容易で速いスライドのサンプルローディングのメカニズムはサンプル準備を容易にします
  • 版をサンプル扱って周囲の空気または液体の容易なイメージ投射を許可して下さい
  • 使用できる広範囲オプションおよびアクセサリ

Last Update: 19. December 2014 09:05

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