7500 Inverteu o Fotomicroscópio Das Tecnologias de Keysight

7500 Inverteu o Fotomicroscópio Das Tecnologias de Keysight

As Tecnologias de Keysight introduziram os 7500 inverteram o sistema do fotomicroscópio (ILM) que integra a capacidade óptica directa da visão de um microscópio óptico invertido com a potência de um microscópio atômico de alta resolução da força (AFM).

Os 7500 ILM fornecem o desempenho excelente, facilitam a imagem lactente fácil nos líquidos e estendem o serviço público do AFM aos estudos da tampa de únicos polímeros, de moléculas, de pilhas inteiras e de membranas de pilha. Usar o Keysight ILM, óptico, fluorescência e dados atômicos da microscopia da força pode ser recolhida simultaneamente.

Além, a estrutura áspera da fase dos 7500 ILM fornece o assoalho de baixo nível de ruído exigido para conseguir uma definição de secundário-nanômetro. O projecto sofisticado igualmente permite o AFM de ser colocado sobre um microscópio invertido e sob a coluna da iluminação, assim tendo por resultado o contraste óptico melhorado para as imagens.

A amostra flexível de Keysight que segura o mecanismo da placa e da amostra-carga de QuickSlide permite que a preparação da amostra seja fácil e simples. O AFM é colocado no conjunto de QuickSlide, de modo que os usuários possam facilmente mudar amostras e soluções sem afetar o alinhamento do microscópio óptico ou do AFM.

Características Chaves

As características principais dos 7500 ILM incluem:

  • O projecto Invertido do varredor permite a instalação fácil
  • O AFM De alta resolução em um microscópio óptico invertido permite o AFM e a imagem lactente da fluorescência simultaneamente
  • o acesso da visão da Aberto-Parte Superior, a vista óptica invertida e a iluminação da parte superior fornecem o contraste óptico excelente
  • A opção Patenteada do Modo do MAC oferece a imagem lactente nondestructive do AFM das amostras no líquido
  • A montagem Rígida da fase oferece o assoalho de baixo nível de ruído para uma definição de secundário-nanômetro
  • A opção de PicoTREC entrega o tempo real, a topografia simultânea e a imagem lactente do reconhecimento
  • O mecanismo Rápido Fácil da amostra-carga da Corrediça faz a preparação da amostra fácil
  • Amostra-Segurando placas permita a imagem lactente fácil no ar ambiental ou nos líquidos
  • Vasta gama de opções e de acessórios disponíveis

Last Update: 19. December 2014 09:06

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