Fase DI X-Y diPosizionamento di Risoluzione di PInano di Scansione Piezo-elettrico Eccellente del Microscopio dal PI

Le fasi di scansione del microscopio di PInano efficacemente sono utilizzate nelle tecniche ad alta definizione ottimizzate di microscopia quali STED, NSOM e la TEMPESTA. Il basso profilo di 0,8 pollici permette all'integrazione conveniente e ad una grande apertura diaframma per i supporti della diapositiva del microscopio e le capsule di Petri.

Funzionalità Salienti

Le funzionalità salienti della Fase DI X-Y diPosizionamento di Risoluzione di PInano di Scansione Piezo-elettrico Eccellente del Microscopio sono:

  • Gli Accessori sono disponibili per le capsule di Petri ed i supporti della diapositiva del microscopio.
  • Ha un μm 200x200 posizionare l'intervallo.
  • Offre una scelta dei sensori, come piezoresistive (più a basso costo) o capacitivo (rendimenti elevati).
  • Versione Ultraelevata dell'diretto-unità di dinamica disponibile per tenere la carreggiata della particella.
  • Sistema Economico con il regolatore ad alto rendimento.
  • Azionatori piezo-elettrici incapsulati ceramici di lunga vita di PICMA.

La Fase DI X-Y diPosizionamento di Risoluzione di PInano di Scansione Piezo-elettrico Eccellente del Microscopio è offerta in sei versioni che includono tre DI X-Y e tre XYZ. Le funzionalità salienti di queste versioni sono:

  • il μm 200x200 che posiziona l'intervallo, è economico e comprende i sensori resistenti piezo-elettrici a basso costo e ad alta definizione.
  • Ha alta stabilità ed è fornito di feedback capacitivo della diretto-metrologia di alta precisione.
  • Ha alta velocità, per tenere la carreggiata della particella. (μm 70x70) con unità diretta e feedback piezoresistive.
  • Tutte Le versioni possono anche essere ordinate per moto di XYZ.

Last Update: 19. December 2012 10:48

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