Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Piezo Gescannte Biegung Geführte Stufe - NPS-Z-15B von Queensgate-Instrumenten

Das NPS-Z-15B ist eine piezo gescannte Biegung geführte nanopositioning Stufe mit integrierten KapazitanzStellungsgebern. Es ist zu Unternm Auflösung und Reproduzierbarkeit fähig. Diese Stufe ist konstruiert worden, um - niedrige Winkelabweichung extrem zu haben, während sie scannt.

Es ist für Gebrauch in der Scannenfühlermikroskopie und -interferometrie ideal, in der Reinheit des Antrages wichtig ist.

Merkmale

Merkmale der NPS-Z-15B nanopositioning Stufe umfassen:

  • > Arbeitsweg mit 15 Mikrometern mit Unternm Auflösung
  • < 0,005% Hysterese- und Linearitätsfehler
  • Erste Eigenfrequenz > 1,8 KHz
  • Hohe Bandweiten (> 300 Hz) und schnelle Antwortzeiten
  • In-situscannen- und Sprungantwortoptimierung
  • Robust und zuverlässig
  • SuperInvarbau

Anwendungen

Die NPS-Z-15B nanopositioning Stufe wird zu den Anwendungen wie entsprochen:

  • Scannende Fühler-Mikroskopie
  • NSOM
  • AtomKraft-Mikroskopie
  • Feinmechanik
  • Interferometrie
  • Metrologie

Last Update: 19. April 2012 11:19

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment