压力浏览的弯曲引导的阶段 - 从 Queensgate 仪器的 NPS-Z-15B

NPS-Z-15B 是与集成电容位置检测器的一个压力浏览的弯曲引导的 nanopositioning 的阶段。 它有能力在子毫微米解决方法和增殖率上。 当它浏览,此阶段被设计有极低的有角偏差。

是理想的用于扫描探测显微学和干涉测量法,行动纯度是重要的。

功能

NPS-Z-15B nanopositioning 的阶段的功能包括:

  • > 与子毫微米解决方法的 15 个测微表旅行
  • < 0.005% 迟滞现象和线性错误
  • 第一谐振频率 > 1.8 KHz
  • 高带宽 (> 300 Hz) 和快速响应时间
  • 原地扫描和阶跃响应优化
  • 稳健和可靠
  • 超级英瓦合金建筑

应用

NPS-Z-15B nanopositioning 的阶段配合与应用例如:

  • 浏览的探测显微学
  • NSOM
  • 基本强制显微学
  • 精确工程
  • 干涉测量法
  • 计量学

Last Update: 19. April 2012 11:18

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment