壓力瀏覽的彎曲引導的階段 - 從 Queensgate 儀器的 NPS-Z-15B

NPS-Z-15B 是與集成電容位置檢測器的一個壓力瀏覽的彎曲引導的 nanopositioning 的階段。 它有能力在子毫微米解決方法和增殖率上。 當它瀏覽,此階段被設計有極低的有角偏差。

是理想的用於掃描探測顯微學和干涉測量法,行動純度是重要的。

功能

NPS-Z-15B nanopositioning 的階段的功能包括:

  • > 與子毫微米解決方法的 15 個測微表旅行
  • < 0.005% 遲滯現象和線性錯誤
  • 第一諧振頻率 > 1.8 KHz
  • 高帶寬 (> 300 Hz) 和快速響應時間
  • 原地掃描和階躍響應優化
  • 穩健和可靠
  • 超級英瓦合金建築

應用

NPS-Z-15B nanopositioning 的階段配合與應用例如:

  • 瀏覽的探測顯微學
  • NSOM
  • 基本強制顯微學
  • 精確工程
  • 干涉測量法
  • 計量學

Last Update: 19. April 2012 11:18

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