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Bruker UMT-1 - UniversalMATERIALPRÜFUNGS-Plattform - Nanoscale und Mikroskala-Einrückungs-und Kratzer-Prüfung

Brukers UMT-1 Nano-- und mikromechanische Prüfgerätplattform liefert entscheidende Flexibilität in der Einrückungs- und Kratzerprüfung. Die Anlage verwendet sechs austauschbare mechanische Köpfe, die einfache Umwandlung von Zahnwalze zu Kratzerprüfvorrichtung aktivieren, und zwischen Mikro und nanoscale Fähigkeiten.

Die modularen Elemente des UMT-1 umfassen auch ein Hochvergrößerung Mikroskop und Darstellungsblöcke (Auswerteprogramm des Stiftes FLUGHANDBUCH und 3D). Diese eindeutige Auslegung aktiviert das UMT-1, den Dünnfilm anzupacken, der mit der gleichen überlegenen Leistung nanoindenting und nanoscratching ist, dass sie mikromechanische Prüfung von Beschichtungen und von Massenmaterialien handhabt, und sie kann zwischen diese Aufgaben in weniger als 2 Minuten schalten.

Anwendungen

  • Automobil, Luftfahrt
  • Mikroelektronik
  • Elektrische Kontakte
  • Metalle, Keramik
  • BioMaterialien, Medizinisch
  • MEMs, Optik
  • Flexible u. Harte Media
  • Verbundwerkstoffe
  • Schmiermittel, Zusätze
  • Dünnfilme, Beschichtungen
  • Polymere, Elastomere
  • Papier, Gewebe

Technische Höhepunkte

Mehrfache Prüfungen auf Nano--, Mikro und Makroschuppen:

  • Statische und dynamische Reibung
  • Ultra-niedrig-Drehzahl (0,1 micro/s) Steuerknüppelbeleg
  • Kleber, abschleifend und Abnützung löschend
  • Zug-weg Beitritt/striction
  • Kratzer-Beitritt und Ablösung
  • Einrückung, Härte und Elastizitätsmodul
  • Mehrfachdurchlauf, Multiachsenermüdung
  • Spannung, Elastizität, Plastizität und Ausdehnung
  • Drucklufterzeugung, Spannkraft und Drehung
  • Dreipunkt- Verbiegen

Mehrfache Fühler für in-situprüfungsüberwachung:

  • Ultra-Präzision Kraftfühler der eigenen Technologie und der patentierten Auslegung (1 µN bis 1 kN)
  • Fühler 6-D für simultane Maße von 3 Kräften und von 3 Anziehdrehmomenten in allen X-, O- und Z-Äxten
  • Hochfrequenzfühler der akustischen Emission der eigenen Auslegung, ultra-empfindlich zu den kleinsten Brüchen und zur Abnützung
  • Abnützungs- und Deformationsfühler der Mikro- (0,5 Mikron) und Nano (20 nm) Auflösung
  • Elektrischer Widerstand des Kontaktes und der Oberfläche (nOhms zu MOhms) für Befund des Filmversagens oder -ansammlung
  • Temperatur und Feuchtigkeitssensoren
  • Integrierte Visionsanlage für die mikro-Positionierung und digitales Video der Versagendynamik
  • Integriertes FLUGHANDBUCH für periodische Nano-darstellung von Prüfungsoberflächen, Abnützungsspuren, drückt ein und löscht

Präzision Servosteuerung von Belastungen, von Drehzahlen und von Stellungen für eindeutig reproduzierbare Daten und in hohem Grade produktive Prüfungen z.B. wiederholbare verschiedene Belastungen auf verschiedenen Probenmaterialbereichen für Multiprüfung Ergebnisse von den einzelnen Prüfungen

Mehrfachverbindungsstelle Synchronisierte lineare und Drehanträge von oberen und untereren Probenmaterialien in allen X-, O- und Z-Äxten, einschließlich Oszillationen (bis 60 Hz), für hoch entwickelte Multiachsenprüfungen z.B. mit Spirale, Zickzack oder Basisrecheneinheitskratzer/Abnützungsspuren

Mehrfache Kammern mit rechnergesteuerter Temperatur (- 25 bis 1000°C), Feuchtigkeit (10 bis 95% RECHTS), Vakuum (bis 10-6 Torr), Austauschbarer Antrag der Gase und Fühlerblöcke werden leicht innerhalb von Minuten ausgetauscht

Last Update: 30. October 2013 14:30

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