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Bruker CETR-UMT - Umfassende Materialprüfungs-Plattform

Die Universal-Nano+Micro+Macro-Prüfvorrichtung ist eine Plattform der einfachen Genauigkeit mit leicht austauschbaren Blöcken, die in drei Hauptkonfigurationen kommen:

UNMT-1

Für umfassende Nano-- und mikromechanische Prüfungen von Dünnfilmen und von Nano--strukturierten Materialien, mit einem Messbereich von 1 µm bis 10 N.

UMT-2

Für umfassende mikromechanische Prüfungen von Beschichtungen und von Materialien, mit einem Messbereich von 1 Mangan bis 200 N.

UMT-3

Für umfassende Makro-mechanische Prüfungen von Schmiermitteln, Metall und keramische Materialien, mit einem Messbereich von 0,1 N bis 1 kN.

Anwendungen

  • Automobil, Luftfahrt
  • Mikroelektronik
  • Elektrische Kontakte
  • Metalle, Keramik
  • BioMaterialien, Medizinisch
  • MEMs, Optik
  • Flexible u. Harte Media
  • Verbundwerkstoffe
  • Schmiermittel, Zusätze
  • Dünnfilme, Beschichtungen
  • Polymere, Elastomere
  • Papier, Gewebe

Technische Höhepunkte

Mehrfache Prüfungen auf Nano--, Mikro und Makroschuppen:

  • Statische und dynamische Reibung
  • Ultra-niedrig-Drehzahl (0,1 micro/s) Steuerknüppelbeleg
  • Kleber, abschleifend und Abnützung löschend
  • Zug-weg Beitritt/striction
  • Kratzer-Beitritt und Ablösung
  • Einrückung, Härte und Elastizitätsmodul
  • Mehrfachdurchlauf, Multiachsenermüdung
  • Spannung, Elastizität, Plastizität und Ausdehnung
  • Drucklufterzeugung, Spannkraft und Drehung
  • Dreipunkt- Verbiegen

Mehrfache Fühler für in-situprüfungsüberwachung:

  • Ultra-Präzision Kraftfühler der eigenen Technologie und der patentierten Auslegung (1 µN bis 1 kN)
  • Fühler 6-D für simultane Maße von 3 Kräften und von 3 Anziehdrehmomenten in allen X-, O- und Z-Äxten
  • Hochfrequenzfühler der akustischen Emission der eigenen Auslegung, ultra-empfindlich zu den kleinsten Brüchen und zur Abnützung
  • Abnützungs- und Deformationsfühler der Mikro- (0,5 Mikron) und Nano (20 nm) Auflösung
  • Elektrischer Widerstand des Kontaktes und der Oberfläche (nOhms zu MOhms) für Befund des Filmversagens oder -ansammlung
  • Temperatur und Feuchtigkeitssensoren
  • Integrierte Visionsanlage für die mikro-Positionierung und digitales Video der Versagendynamik
  • Integriertes FLUGHANDBUCH für periodische Nano-darstellung von Prüfungsoberflächen, Abnützungsspuren, drückt ein und löscht

Präzision Servosteuerung von Belastungen, von Drehzahlen und von Stellungen für eindeutig reproduzierbare Daten und in hohem Grade produktive Prüfungen z.B. wiederholbare verschiedene Belastungen auf verschiedenen Probenmaterialbereichen für Multiprüfung Ergebnisse von den einzelnen Prüfungen

Mehrfachverbindungsstelle Synchronisierte lineare und Drehanträge von oberen und untereren Probenmaterialien in allen X-, O- und Z-Äxten, einschließlich Oszillationen (bis 60 Hz), für hoch entwickelte Multiachsenprüfungen z.B. mit Spirale, Zickzack oder Basisrecheneinheitskratzer/Abnützungsspuren

Mehrfache Kammern mit rechnergesteuerter Temperatur (- 25 bis 1000°C), Feuchtigkeit (10 bis 95% RECHTS), Vakuum (bis 10-6 Torr), Austauschbarer Antrag der Gase und Fühlerblöcke werden leicht innerhalb von Minuten ausgetauscht

Last Update: 16. May 2012 14:34

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