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Bruker CETR-UMT - 広範囲材料テストのプラットホーム

ユニバーサル Nano+Micro+Macro のテスターは 3 つの主要な構成入って来容易に交換可能なモジュールが付いている単精度のプラットホームです:

UNMT-1

10 N. への 1 つの µm のロード範囲が付いている薄膜そして nano 構成された材料の広範囲の nano およびマイクロ機械テストのため。

UMT-2

200 N. への 1 つの mN のロード範囲が付いているコーティングそして材料の広範囲のマイクロ機械テストのため。

UMT-3

潤滑油、金属そして 0.1 N から 1 つの kN のロード範囲が付いている陶磁器材料の広範囲のマクロ機械テストのため。

アプリケーション

  • 自動車、宇宙航空
  • マイクロエレクトロニクス
  • 電気接触
  • 金属、製陶術
  • 医学生物材料
  • MEMs の光学
  • 適用範囲が広く及び堅い媒体
  • 複合材料
  • 潤滑油、添加物
  • 薄膜、コーティング
  • ポリマー、エラストマー
  • ペーパー、ファブリック

技術的なハイライト

nano、マイクロおよびマクロスケールの多重テスト:

  • 静的で、ダイナミックな摩擦
  • 超低速度 (0.1 micro/s) の棒スリップ
  • 接着剤、研摩および摩耗をスクラッチします
  • 引きの付着/striction
  • スクラッチ付着および薄片分離
  • 刻み目、硬度および弾性率
  • 複数サイクル、複数の軸線の疲労
  • 緊張、伸縮性、可塑性およびクリープ
  • 圧縮、張力およびねじり
  • 3点に曲がること

そのままのテストモニタリングのための多重センサー:

  • 専有技術および特許を取られたデザイン (1 つの µN から 1 つの kN) の超精密力センサー
  • すべての X、 Y および Z の斧の 3 つの力そして 3 トルクの同時測定のための 6-D センサー
  • 専有デザインの高周波アコースティックエミッションセンサー、超高感度最も小さいひびおよび摩耗に
  • マイクロ (0.5 ミクロン) および nano (20 nm) 解像度の摩耗および変形センサー
  • フィルムの障害または集結の検出のための接触および表面の電気抵抗 (MOhms への nOhms)
  • 温度および湿気センサー
  • 障害の原動力のマイクロ位置およびデジタルビデオのための統合された視野システム
  • テスト表面、摩耗トラックの定期的な nano イメージ投射のための統合された AFM は、字下がりにし、スクラッチします

単一テストからの複数のテスト結果のための異なった標本領域の一義的に再生可能なデータおよび非常にプロダクティブテストの例えば、反復可能な異なったロードのためのロード、速度および位置の精密サーボ制御

すべての X、 Y および Z の斧の上部および下の標本の倍数によって同期される線形および回転式動き、振動 (60 までの Hz) を含む、螺線形、ジグザグ形または蝶スクラッチ/摩耗トラックが付いている洗練された複数の軸線テストのために、例えば、

コンピューター制御温度の多重区域 (- 25 から 1000°C)、湿気 (10 から 95% RH)、真空 (10 トル-6 まで)、ガスの交換可能な動きおよびセンサーのモジュールは容易に数分以内に交換されます

Last Update: 16. May 2012 14:35

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