Bruker からの CETR 頂点はマイクロおよび nanoscale のテストのための工業一流の感度の圧子およびスクラッチテスター、無比パフォーマンスおよび多様性および別のモジュールです。
Nano モジュール NH
薄膜 (太陽電池、 cvd、 pvd、 DLC、 MEMS、等) nano 機械テストのナノテクノロジーそして開発の進歩によって標準になりました。 それらは従来のテストで非常に鋭い先端、高い空間分解能および in-situ 精密なロード変位データの低いロードそして浅深度でされることによって改良します。
Nano 刻み目 - 薄膜の硬度、ヤングの係数、抗張およびフォン Mises の圧力、接触の剛さ、等、厚いコーティングおよび第一次製品を測定するために ISO 14577 ごとの選抜して下さい/多重刻み目。
一定したの Nano スクラッチ、引っかき硬度を評価し、薄膜の付着をスクラッチすること増加およびユーザが定義するプログラム可能なロード厚いコーティングおよび第一次製品。
深さ依存した損失および記憶の係数を測定するダイナミックな刻み目 (振動の先端と)。
NH の機能
- 電磁力のトランスデューサー
- 超高精度の変位を測定する 3 版キャパシタンスセンサー
- Berkovich、球形、立方体、コーナー、等の圧子の先端の geometires
- 刻み目の無制限番号のマップ
- インラインイメージ投射オプション (推薦される AFM)
- 高いスループットおよび反復性
- 任意選択高度の in-situ センサー
- 熱及び音響機構、振動隔離表
- 対応 ASTM、 DIN および ISO
マイクロモジュール NH
マイクロ機械テストがコーティングまたは第一次製品の機械特性を測定するのに使用されていました。 取り付けられたマイクロ機械テストは従来の物で in-situ ロード変位データを提供することと広範囲の性格描写のためにアコースティックエミッション、 ECR、摩擦、等のような高度のシグナルを使用することによって改良します。
取り付けられたマイクロ刻み目 - マクロスケールの ISO 14577 ごとの… (大きいロードのためにより 2 N) およびマイクロスケール (コーティングの硬度、ヤングの係数、抗張およびフォン Mises の圧力、接触の剛さ、等および第一次製品を計算する 2 N) 以下のロード。
ASTM E384-99 ごとの Vickers および Knoop の従来のマイクロ硬度。
一定した、引っかき硬度を評価し、コーティングの付着をスクラッチすること増加およびユーザが定義するプログラム可能なロードのマイクロスクラッチ。
MH の機能
- 電磁力のトランスデューサー
- 超高精度な Berkovich、立方体球形、コーナー、等の圧子の先端の geometires との変位を測定する 3 版キャパシタンスセンサー
- 刻み目の無制限番号のマップ
- インラインイメージ投射オプション (推薦される 3D 型彫機)
- 高いスループットおよび反復性
- 任意選択高度の in-situ センサー
- 物質的な特性を計算するユーザー定義可能な分析アルゴリズムかモデル
- 対応 ASTM、 DIN および ISO