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Nanolane Markierte BRANDUNGEN Dias

Markierte Brandungsdias aktivieren Sie zu schnell und lokalisieren genau Ihre Nano-nachrichten vor Darstellungs-, Abbilden, lokalerkörperlicher der Maße, der Oberfläche elementarer/chemischer Analyse der hohen Auflösung durch SPM/AFM, microRaman, microFTIR, XPSS, SIMS Usw.

Markierte Brandungsdias nicht grundlegend unterscheiden sich von den StandardBrandungsdias im Hinblick auf ihre optischen Eigenschaften als Kontrast-Vergrößerungsbeispielsubstratflächen in SEEC-Mikroskopie, aber sie tragen ein Gitter, dessen periodische Merkmale Benutzer aktiviert, leicht zu finden und Genauigkeitsproben von nanometric Abmessungen, die auf der Oberfläche der Substratfläche sitzen.

Dieses Muster besteht Silikonzeilen und aus Punkten von herum 30 nm in der Höhe. Sie können durch jede optische Einheit wie eine Videokamera, Ferngläser, ein Mikroskop und dergleichen leicht ausgemacht werden. Diese hinzugefügte Eigenschaft sortiert ohne Zweifel Markierte Brandungen als auserlesene Substratflächen, wenn sie Nano-nachrichten/Filme durch SEEC-Mikroskopie lokalisiert, ist von höchster Bedeutung vor lokalen Untersuchungen durch FLUGHANDBUCH, Raman, XPS, SIMS, IR und so weiter aus.

Last Update: 3. June 2012 07:16

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