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Nanolane Marcó Diapositivas de las RESACAS

Las diapositivas Marcadas de las Resacas le activan localizan a rápidamente y exactamente sus nano-objetos antes de análisis elemental/químico físico de alta resolución de la proyección de imagen, de la correspondencia, local de las mediciones, de la superficie por SPM/AFM, el microRaman, el microFTIR, XPS, SIMS Etc.

Las diapositivas Marcadas de las Resacas no difieren fundamental de diapositivas estándar de las Resacas en términos de sus propiedades ópticas como substratos de contraste-aumento de la muestra en microscopia de SEEC, sino que soportan una matriz cuyas características periódicas permitan a utilizadores situar fácilmente y las muestras de la exactitud de las dimensiones nanometric que se sientan en la superficie del substrato.

Este modelo consiste en líneas del sílice y los puntos de alrededor 30 nanómetro en altura. Pueden ser hechos fácilmente por cualquier dispositivo óptico tal como una cámara de vídeo, binoculareses, un microscopio y similares. Esta característica adicional destaca indudablemente las Resacas Marcadas como substratos bien escogidos al localizar nano-objetos/las películas con microscopia de SEEC es de importancia primaria delante de investigaciones locales a través de AFM, Raman, XPS, SIMS, IR y así sucesivamente.

Last Update: 3. June 2012 07:17

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