Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam

Guides Marqués de RESSACS de Nanolane

Les guides Marqués de Ressacs vous activent localisent à rapidement et exactement vos nano-objectifs avant la représentation de haute résolution, le mappage, les mesures matérielles locales, la surface élémentaire/analyse chimique par SPM/AFM, le microRaman, le microFTIR, le XPS, le SIMS Etc.

Les guides Marqués de Ressacs ne diffèrent pas principalement des guides normaux de Ressacs en termes de leurs propriétés optiques en tant que substrats contraste-augmentants témoin dans la microscopie de SEEC, mais ils défrayent un réseau dont les caractéristiques techniques périodiques permet à des utilisateurs de situer facilement et des échantillons d'exactitude de cotes nanometric qui se reposent sur la surface du substrat.

Cette configuration se compose des lignes de silice et des points environ de 30 nanomètre de hauteur. Ils peuvent facilement être effectués à l'extérieur par n'importe quel périphérique optique tel qu'une caméra vidéo, jumelles, un microscope et semblable. Cette caractéristique ajoutée choisit assurément les Ressacs Marqués en tant que substrats bien choisis en localisant des nano-objectifs/films par la microscopie de SEEC est d'importance primaire en avant des investigations locales par AFM, Raman, XPS, SIMS, IR et ainsi de suite.

Last Update: 3. June 2012 07:16

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment