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Nanolane는 파도 활주를 표시했습니다

표시되어 있는 파도 활주에 의하여 SPM/AFM에 의하여 고해상 화상 진찰, 지도로 나타내, 현지 물리적인 측정, 표면 원소/화학 분석 이전에 빨리에 그리고 정확하게 찾아냅니다 nano 객체가, microRaman, microFTIR, XPS, SIMS 등등 가능하게 합니다.

표시되어 있는 파도 활주는 SEEC 현미경 검사법에 있는 대조 강화 견본 기질로 그들의 광학적 성질 식으로 표준 파도 활주와 기본적으로 다르지 않습니다, 그러나 그의 정기적 특징이 사용자를 쉽게 위치를 알아내는 가능하게 하는 격자 및 기질의 표면에 있는 nanometric 차원의 정확도 견본을 품습니다.

이 패턴은 고도 약 30 nm의 실리카 선 그리고 점으로 이루어져 있습니다. 그(것)들은 비데오 카메라 쌍안경, 현미경과 같은 어떤 광학 장치든지에 의해 쉽게 등등 밖으로 할 수 있습니다. 이 추가한 특성은 정선한 기질로 AFM, 라만, XPS, SIMS, IR를 통해서 현지 수사 앞서서 1 차적인 중요성 의심할 여지없이 nano 객체/필름을 SEEC 현미경 검사법을 통해 찾아낼 때 표시되어 있는 파도를 등등 입니다 선출합니다.

Last Update: 3. June 2012 07:16

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