El SARFUS Que Correlaciona la Estación es un sistema completo dedicado a la observación de nano-objetos en tiempo real y la medición del espesor óptico de la película ultrafina en seco y en líquido. Cada componente de este producto se ha elegido cuidadosamente para asegurar la calidad de la imagen de sus muestras así como la exactitud de la medición nanometric. Esta estación incluye:
- Microscopio Óptico de la Investigación, medición certificada de SARFUS; cámara numérica 3-CCD
- Software de Sarfusoft: adquisición de la imagen con el timelapse, transformación 2D-3D
- Software de análisis Superficial (Tecnología de las Montañas)
- Patrón de la Calibración, detectable al patrón de PTB
- PC y visualización de alta resolución
- Resacas
Características Dominantes:
- Alta sensibilidad (z-AXIS)
- nano-objeto 1-D (película): hacia abajo a 0.1nm
- 2.o nano-objeto (tubo/cable): hacia abajo a 2nm a través
- nano-objeto tridimensional (partícula): hacia abajo a 10nm a través
- Campo visual Grande
- el 1150µm los x 870µm [Aire 10x]
- los 230µm el x 170µm [Aire 50x]
- los 251µm el x 189µm [Agua 40x]
- el 159µm el x 120µm [Agua 63x]
- Otras magnificaciones disponibles
- Adquisición y Tiempo Real Directos
- Pixeles de las imágenes de HD [1360 x 1024]
- Time lapse (hasta 15 imágenes por segundo)
- Adquisición del Vídeo en directo
- no destructivo y no invasor
- tramitación convivial y Rápido
- Tecnología Familiar (microscopio óptico)
- Ninguna necesidad del entrenamiento específico
- Fluorescencia compatible
- Resolución Lateral - hacia abajo a 350nm
- Rango de la Medición: 1nm a 60nm
- Repetibilidad: 0,2 nanómetros (según ISO 17025)