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Nanolane SARFUS Que Correlaciona la Estación

El SARFUS Que Correlaciona la Estación es un sistema completo dedicado a la observación de nano-objetos en tiempo real usando SEEC (Contraste Elipsométrico Aumentado Superficie), y la medición del espesor del film ultrafino en seco y en líquido. Cada componente de este producto se ha elegido cuidadosamente para asegurar la calidad de la imagen de sus muestras así como la exactitud de la medición nanometric. Esta estación incluye:

  • Microscopio Óptico de la Investigación, medición certificada de SARFUS; cámara numérica 3-CCD
  • Software de Sarfusoft: adquisición de la imagen con el timelapse, transformación 2D-3D
  • Software de análisis Superficial (Tecnología de las Montañas)
  • Patrón de la Calibración, detectable al patrón de PTB
  • PC y visualización de alta resolución
  • Resacas

Características Dominantes:

  • Alta sensibilidad (z-AXIS)
    • nano-objeto 1-D (película): hacia abajo a 0.1nm
    • 2.o nano-objeto (tubo/cable): hacia abajo a 2nm a través
    • nano-objeto tridimensional (partícula): hacia abajo a 10nm a través
  • Campo visual Grande
    • el 1150µm los x 870µm [Aire 10x]
    • los 230µm el x 170µm [Aire 50x]
    • los 251µm el x 189µm [Agua 40x]
    • el 159µm el x 120µm [Agua 63x]
    • Otras magnificaciones disponibles
  • Adquisición y Tiempo Real Directos
    • Pixeles de las imágenes de HD [1360 x 1024]
    • Time lapse (hasta 15 imágenes por segundo)
    • Adquisición del Vídeo en directo
  • no destructivo y no invasor
  • tramitación convivial y Rápido
    • Tecnología Familiar (microscopio óptico)
    • Ninguna necesidad del entrenamiento específico
  • Fluorescencia compatible
  • Resolución Lateral - hacia abajo a 350nm
  • Rango de la Medición: 1nm a 60nm
  • Repetibilidad: 0,2 nanómetros (según ISO 17025)

Last Update: 20. November 2013 14:13

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