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Station de Mappage de Nanolane SARFUS

La Station de Mappage de SARFUS est un système complet consacré à l'observation des nano-objectifs en temps réel utilisant SEEC (Contraste Ellipsométrique Amélioré Extérieur), et la mesure de l'épaisseur de film ultra-mince dans sec et dans le liquide. Chaque composant de ce produit a été soigneusement choisi pour assurer la qualité des images de vos échantillons ainsi que l'exactitude de la mesure nanometric. Cette station comprend :

  • Microscope Optique de Recherches, mesure certifiée de SARFUS ; appareil-photo 3-CCD numérique
  • Logiciel de Sarfusoft : acquisition des images avec le timelapse, transformation 2D-3D
  • Logiciel d'analyse Extérieur (Technologie de Montagnes)
  • Norme d'Étalonnage, décelable à la norme de PTB
  • PC et affichage de haute résolution
  • Ressacs

Fonctionnalités Clé :

  • Sensibilité Élevée (axe des z)
    • nano-objectif 1-D (film) : vers le bas à 0.1nm
    • 2-D nano-objectif (tube/fil) : vers le bas à 2nm à travers
    • nano-objectif à trois dimensions (particule) : vers le bas à 10nm à travers
  • Grand champ de vision
    • 1150µm x 870µm [Air 10x]
    • 230µm x 170µm [Air 50x]
    • 251µm x 189µm [l'Eau 40x]
    • 159µm x 120µm [l'Eau 63x]
    • D'Autres agrandissements disponibles
  • Saisie et Temps Réel Directs
    • Pixels des images de HD [1360 x 1024]
    • Temps-Déchéance (jusqu'à 15 images par seconde)
    • Saisie de Vidéo en direct
  • non destructif et non envahissant
  • traitement convivial et Rapide
    • Technologie Familière (microscope optique)
    • Aucun besoin de formation particulière
  • Fluorescence compatible
  • Définition Transversale - vers le bas à 350nm
  • Chaîne de Mesure : 1nm à 60nm
  • Répétabilité : 0,2 nanomètres (selon OIN 17025)

Last Update: 20. November 2013 14:11

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