La Station de Mappage de SARFUS est un système complet consacré à l'observation des nano-objectifs en temps réel et la mesure de l'épaisseur optique de film ultra-mince dans sec et dans le liquide. Chaque composant de ce produit a été soigneusement choisi pour assurer la qualité des images de vos échantillons ainsi que l'exactitude de la mesure nanometric. Cette station comprend :
- Microscope Optique de Recherches, mesure certifiée de SARFUS ; appareil-photo 3-CCD numérique
- Logiciel de Sarfusoft : acquisition des images avec le timelapse, transformation 2D-3D
- Logiciel d'analyse Extérieur (Technologie de Montagnes)
- Norme d'Étalonnage, décelable à la norme de PTB
- PC et affichage de haute résolution
- Ressacs
Fonctionnalités Clé :
- Sensibilité Élevée (axe des z)
- nano-objectif 1-D (film) : vers le bas à 0.1nm
- 2-D nano-objectif (tube/fil) : vers le bas à 2nm à travers
- nano-objectif à trois dimensions (particule) : vers le bas à 10nm à travers
- Grand champ de vision
- 1150µm x 870µm [Air 10x]
- 230µm x 170µm [Air 50x]
- 251µm x 189µm [l'Eau 40x]
- 159µm x 120µm [l'Eau 63x]
- D'Autres agrandissements disponibles
- Saisie et Temps Réel Directs
- Pixels des images de HD [1360 x 1024]
- Temps-Déchéance (jusqu'à 15 images par seconde)
- Saisie de Vidéo en direct
- non destructif et non envahissant
- traitement convivial et Rapide
- Technologie Familière (microscope optique)
- Aucun besoin de formation particulière
- Fluorescence compatible
- Définition Transversale - vers le bas à 350nm
- Chaîne de Mesure : 1nm à 60nm
- Répétabilité : 0,2 nanomètres (selon OIN 17025)