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Nanolane SARFUS che Mappa Stazione

Il SARFUS che Mappa la Stazione è un sistema completo dedicato all'osservazione degli nano-oggetti in tempo reale facendo uso di SEEC (Contrasto Ellissometrico Migliorato Superficie) e la misura di spessore di pellicola ultrasottile in asciutto ed in liquido. Ogni componente di questo prodotto è stata scelta con attenzione per assicurare la qualità di immagine dei vostri campioni come pure l'accuratezza della misura nanometric. Questa stazione include:

  • Microscopio Ottico di Ricerca, misura certificata di SARFUS; macchina fotografica numerica 3-CCD
  • Software di Sarfusoft: acquisizione di immagine con timelapse, trasformazione 2D-3D
  • Software di analisi Di Superficie (Tecnologia delle Montagne)
  • Standard di Calibratura, imputabile allo standard di PTB
  • PC e visualizzazione di alta risoluzione
  • Spume

Caratteristiche Fondamentali:

  • Alta sensibilità (z-asse)
    • 1-D nano-oggetto (pellicola): giù a 0.1nm
    • 2-D nano-oggetto (tubo/collegare): giù a 2nm attraverso
    • nano-oggetto 3-D (particella): giù a 10nm attraverso
  • Grande campo visivo
    • 1150µm x 870µm [Aria 10x]
    • 230µm x 170µm [Aria 50x]
    • 251µm x 189µm [Acqua 40x]
    • 159µm x 120µm [Acqua 63x]
    • Altri ingrandimenti disponibili
  • Acquisizione Diretta & Tempo Reale
    • Pixel di immagini di HD [1360 x 1024]
    • Ripresa temporizzata (fino a 15 immagini al secondo)
    • Acquisizione del video In Tensione
  • non distruttivo e non invadente
  • trattamento facile da usare & Veloce
    • Tecnologia Esperta (microscopio ottico)
    • Nessun'esigenza di addestramento specifico
  • Fluorescenza compatibile
  • Risoluzione Laterale - giù a 350nm
  • Intervallo di Misura: 1nm a 60nm
  • Ripetibilità: 0,2 nanometri (secondo l'ISO 17025)

Last Update: 20. November 2013 14:12

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