Il SARFUS che Mappa la Stazione è un sistema completo dedicato all'osservazione degli nano-oggetti in tempo reale e la misura di spessore ottico della pellicola ultrasottile in asciutto ed in liquido. Ogni componente di questo prodotto è stata scelta con attenzione per assicurare la qualità di immagine dei vostri campioni come pure l'accuratezza della misura nanometric. Questa stazione include:
- Microscopio Ottico di Ricerca, misura certificata di SARFUS; macchina fotografica numerica 3-CCD
- Software di Sarfusoft: acquisizione di immagine con timelapse, trasformazione 2D-3D
- Software di analisi Di Superficie (Tecnologia delle Montagne)
- Standard di Calibratura, imputabile allo standard di PTB
- PC e visualizzazione di alta risoluzione
- Spume
Caratteristiche Fondamentali:
- Alta sensibilità (z-asse)
- 1-D nano-oggetto (pellicola): giù a 0.1nm
- 2-D nano-oggetto (tubo/collegare): giù a 2nm attraverso
- nano-oggetto 3-D (particella): giù a 10nm attraverso
- Grande campo visivo
- 1150µm x 870µm [Aria 10x]
- 230µm x 170µm [Aria 50x]
- 251µm x 189µm [Acqua 40x]
- 159µm x 120µm [Acqua 63x]
- Altri ingrandimenti disponibili
- Acquisizione Diretta & Tempo Reale
- Pixel di immagini di HD [1360 x 1024]
- Ripresa temporizzata (fino a 15 immagini al secondo)
- Acquisizione del video In Tensione
- non distruttivo e non invadente
- trattamento facile da usare & Veloce
- Tecnologia Esperta (microscopio ottico)
- Nessun'esigenza di addestramento specifico
- Fluorescenza compatibile
- Risoluzione Laterale - giù a 350nm
- Intervallo di Misura: 1nm a 60nm
- Ripetibilità: 0,2 nanometri (secondo l'ISO 17025)