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端末をマップする Nanolane SARFUS

端末をマップする SARFUS は SEEC (表面によって高められる Ellipsometric 対照) を使用してリアルタイム専用されている完全なシステムおよび乾燥したの極めて薄いフィルム厚さの測定と液体の nano 目的の観察にです。 この製品の各コンポーネントは注意深くサンプルの画像の品質、また nanometric 測定の正確さを保障するために選択されました。 この端末は下記のものを含んでいます:

  • 研究の光学顕微鏡、証明された SARFUS の測定; 3 CCD 数値的なカメラ
  • Sarfusoft のソフトウェア: timelapse、第 23D 変形との画像の獲得
  • 表面の分析ソフトウェア (山の技術)
  • PTB の標準に追跡可能な口径測定の標準
  • パソコンおよび高リゾリューションの表示

主要特点:

  • 高い感度 (z 軸)
    • 1-D nano 目的 (フィルム): 0.1nm に
    • 第 2 nano 目的 (管/ワイヤー): 2nm に
    • 3D nano 目的 (粒子): 10nm に
  • 大きい視野
    • 1150µm x 870µm [10x 空気]
    • 230µm x 170µm [50x 空気]
    • 251µm x 189µm [40x 水]
    • 159µm x 120µm [63x 水]
    • 使用できる他の拡大
  • 直接獲得及びリアルタイム
    • HD の画像 [1360 x 1024] ピクセル
    • タイム経過 (毎秒 15 までの画像)
    • 生きているビデオ獲得
  • 非破壊的および非侵襲的
  • ユーザーフレンドリー及び速い処理
    • よく知られた技術 (光学顕微鏡)
    • 特定のトレーニングのための必要性無し
  • 互換性がある蛍光性
  • 側面解像度 - 350nm に
  • 測定の範囲: 1nm への 60nm
  • 反復性: 0.2 nm (ISO 17025 に従って)

Last Update: 20. November 2013 14:12

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