DME-Navigator 220 - Hohe Wiederholbarkeit SPM/FLUGHANDBUCH-Stufe

Mit dem DualScope™ liefert 95 SPM-Scanner-Serie, DME die entscheidende Vereinheitlichung der Benutzerfreundlichkeit und der Leistung. Die dauerhafte Erfahrung eines Jahrzehnts auf dem Gebiet von SPM-Anwendung und die Herstellung werden in den Scannern DS 95 SPM vereinigt, um dem Benutzer zu helfen, die besten und zuverlässigsten Ergebnisse im kürzesten möglichen Zeitabschnitt zu erzielen.

  • Die Kompaktbauweise der der Scanner-Garantien DualScope™ 95 SPM hervorragenden Stabilitäts- und Scan-Kinetik.
  • Der eindeutige bedienungsfertige freitragende Austausch befestigt schnellen und sicheren Betrieb des Instrumentes.
  • Ein integrierter optischer Schwerpunkt im SPM-Scanner stellt Gesamtsichtregelung während des Anfluges und der Positionierung zur Verfügung.
  • Der Scanner DualScope™ 95 SPM stellt die Teildienste für alles Common und hoch entwickelten SPM-Modi zur Verfügung.
  • Integrierte Elektronik im Scan-Kopf garantiert lärmärmsten Werten in elektrischen SPM-Modi.
  • Multi Befestigung DualScope™ 95 erlaubt Einbau des Scanners DualScope™ 95 SPM in DME-Stufen und in andere Teildienste wie nanoindenters, optische Mikroskope, Usw.

Da der DME-Navigator 220™ freigegeben wurde, die Anweisung, „, das Sie nie wieder finden, dass diese Stelle mit Ihrem FLUGHANDBUCH“ nicht mehr wahr ist. Der Navigator 220™ DME DS 95 aktiviert, ein und den gleichen Bereich sogar nach dem Löschen der Probe vom FLUGHANDBUCH wieder nachzuforschen. Basiert auf Bezug strukturiert die Anlagenentdeckungen das Interessengebiet mit einer Präzision besseres dann 250nm.

Das Ganze, das Fortschritt in Position bringt, ist voll automatisch und in hohem Grade stabil und dadurch perfekt, mehrfache strukturelle Merkmale auf einer einzelnen Probe in der Zeitdauer und in den Nachtmaßbodenläufen zu analysieren. Verglichen mit Interferometer basierten Navigationsanlagen wird die Investitionsbemühung drastisch durch die Lieferung einer vergleichbaren Leistung verringert. Die Hauptverwendungsgebiete sind Qualitätskontrolle von Eträger Lithographie, von Lithographiemasken, von nanoimprints und von Analyse von Mehrstufenprozessen wie functionalisation von Oberflächen, von CNTs, von Nano-Partikeln, von Wachstum von Quantumspunkten und von Dünnschichten/von Filmen Usw.

Last Update: 15. July 2013 04:42

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