Navegante 220 del DME - Alta Repetibilidad SPM/Escenario del AFM

Con el DualScope™ 95 series del analizador de SPM, DME proporcionan a la unificación final de la facilidad de empleo y del funcionamiento. La experiencia duradera de una década en el campo de la aplicación de SPM y la fabricación se unen en los analizadores del DS 95 SPM para ayudar al utilizador a lograr los resultados mejores y más seguros del periodo de tiempo posible más corto.

  • El diseño compacto de los 95 SPM tipos excepcionales de la estabilidad y de exploración de las garantías del analizador de DualScope™.
  • El intercambio voladizo listo para el uso único asegura la operación rápida y segura del instrumento.
  • Un eje óptico integrado en el analizador de SPM proporciona a mando visual total durante la aproximación y la colocación.
  • El analizador de DualScope™ 95 SPM proporciona a los recursos para todo el campo común y modos avanzados de SPM.
  • La electrónica Integrada en la carga de exploración garantiza los valores más de poco ruido en modos eléctricos de SPM.
  • El montaje multi de DualScope™ 95 permite la instalación del analizador de DualScope™ 95 SPM en escenarios del DME y otros recursos como nanoindenters, los microscopios ópticos, el Etc.

Puesto Que el Navegante 220™ del DME release/versión, la declaración “que Usted encontrará nunca otra vez que esta mancha con su AFM” es no más verdad. El Navegante 220™ del DME DS 95 activa investigar uno y la misma área otra vez incluso después la eliminación de la muestra del AFM. De Acuerdo con referencia estructura los hallazgos del sistema el campo de interés con una precisión un mejor entonces 250nm.

El conjunto que coloca progreso es por completo automático y altamente estable y de tal modo perfecto analizar características estructurales múltiples en una única muestra a largo plazo y a corridas de noche de la medición. Comparado a los sistemas de colocación basados interferómetro el esfuerzo de la inversión es reducido dramáticamente proporcionando a un funcionamiento comparable. Las áreas de aplicación principal son control de calidad de la litografía del e-haz, de las máscaras de la litografía, de los nanoimprints y del análisis de procesos de varias fases como el functionalisation de superficies, de CNTs, de partículas nanas, del incremento de los puntos del quantum y de capas delgadas/de las películas Etc.

Last Update: 15. July 2013 04:49

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