Navigatore 220 del DME - Alta Ripetibilità SPM/Fase del AFM

Navigatore 220 del DME - Alta Ripetibilità SPM/Fase del AFM

Con il DualScope™ 95 serie dello scanner di SPM, DME forniscono l'ultima unificazione di facilità d'uso e della prestazione. L'esperienza durevole di una decade di campo dell'applicazione di SPM e la fabbricazione sono unite negli scanner di DS 95 SPM per guidare l'utilizzatore raggiungere i migliori e risultati più affidabili nel più breve periodo possibile.

  • La progettazione compatta delle 95 SPM tariffe eccezionali di stabilità e di scansione di garanzie dello scanner di DualScope™.
  • Lo scambio a mensola pronto per l'uso unico assicura il funzionamento veloce e sicuro dello strumento.
  • Un asse ottico integrato nello scanner di SPM fornisce il controllo visivo totale durante l'approccio ed il posizionamento.
  • Lo scanner di DualScope™ 95 SPM fornisce gli impianti per tutti i terreno comunale e modi avanzati di SPM.
  • L'elettronica Integrata nella testa di scansione garantisce i valori più a basso rumore nei modi elettrici di SPM.
  • Il multi supporto di DualScope™ 95 permette l'impianto dello scanner di DualScope™ 95 SPM nelle fasi del DME ed in altri impianti come i nanoindenters, i microscopi ottici, Ecc.

Poiché il Navigatore 220™ del DME è stato rilasciato, l'istruzione “Troverete mai non ancora che questo punto con il vostro AFM„ non è più vero. Il Navigatore 220™ del DME IL DS 95 permette a di studiare ancora uno e che la stessa area anche dopo la rimozione del campione dal AFM. Sulla Base di riferimento struttura i ritrovamenti del sistema il centro di interesse con una precisione migliore poi 250nm.

Il tutto che posiziona il progresso è in pieno automatico ed altamente stabile e quindi perfetto analizzare le funzionalità strutturali multiple su un singolo campione nel lungo termine e nelle esecuzioni di notte di misura. Confrontato ai sistemi di posizionamento basati interferometro lo sforzo di investimento è diminuito drammaticamente fornendo una prestazione comparabile. Le aree di applicazione principale sono controllo di qualità della litografia del e-raggio, delle maschere della litografia, dei nanoimprints e dell'analisi dei trattamenti a più gradi come il functionalisation delle superfici, di CNTs, delle particelle nane, della crescita dei punti di quantum e degli strati sottili/pellicole Ecc.

Last Update: 15. July 2013 04:43

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