Con il DualScope™ 95 serie dello scanner di SPM, DME forniscono l'ultima unificazione di facilità d'uso e della prestazione. L'esperienza durevole di una decade di campo dell'applicazione di SPM e la fabbricazione sono unite negli scanner di DS 95 SPM per guidare l'utilizzatore raggiungere i migliori e risultati più affidabili nel più breve periodo possibile.
- La progettazione compatta delle 95 SPM tariffe eccezionali di stabilità e di scansione di garanzie dello scanner di DualScope™.
- Lo scambio a mensola pronto per l'uso unico assicura il funzionamento veloce e sicuro dello strumento.
- Un asse ottico integrato nello scanner di SPM fornisce il controllo visivo totale durante l'approccio ed il posizionamento.
- Lo scanner di DualScope™ 95 SPM fornisce gli impianti per tutti i terreno comunale e modi avanzati di SPM.
- L'elettronica Integrata nella testa di scansione garantisce i valori più a basso rumore nei modi elettrici di SPM.
- Il multi supporto di DualScope™ 95 permette l'impianto dello scanner di DualScope™ 95 SPM nelle fasi del DME ed in altri impianti come i nanoindenters, i microscopi ottici, Ecc.
Poiché il Navigatore 220™ del DME è stato rilasciato, l'istruzione “Troverete mai non ancora che questo punto con il vostro AFM„ non è più vero. Il Navigatore 220™ del DME IL DS 95 permette a di studiare ancora uno e che la stessa area anche dopo la rimozione del campione dal AFM. Sulla Base di riferimento struttura i ritrovamenti del sistema il centro di interesse con una precisione migliore poi 250nm.
Il tutto che posiziona il progresso è in pieno automatico ed altamente stabile e quindi perfetto analizzare le funzionalità strutturali multiple su un singolo campione nel lungo termine e nelle esecuzioni di notte di misura. Confrontato ai sistemi di posizionamento basati interferometro lo sforzo di investimento è diminuito drammaticamente fornendo una prestazione comparabile. Le aree di applicazione principale sono controllo di qualità della litografia del e-raggio, delle maschere della litografia, dei nanoimprints e dell'analisi dei processi a più gradi come il functionalisation delle superfici, di CNTs, delle particelle nane, della crescita dei punti di quantum e degli strati sottili/pellicole Ecc.