DME 항해자 220 - 높은 반복성 SPM/AFM 단계

DME 항해자 220 - 높은 반복성 SPM/AFM 단계

DualScope™로 95의 SPM 스캐너 시리즈, DME는 사용 용이와 성과의 궁극적인 통합을 제공합니다. SPM 응용의 필드에 있는 십년간의 계속되는 경험 및 제조는 DS 95 SPM 스캐너에서 사용자가 가장 짧은 가능한 기간에 있는 최고와 믿을 수 있는 결과를 달성할 것을 돕도록 결합됩니다.

  • DualScope™ 95의 SPM 스캐너 보증 걸출한 안정성과 검사 비율의 소형 디자인.
  • 유일한 플러그 앤 플레이 공가 교환은 계기의 단단 안전 작동을 확보합니다.
  • SPM 스캐너에 있는 통합 광학 축선은 접근과 두기 도중 총 시각적인 통제를 제공합니다.
  • DualScope™ 95 SPM 스캐너는 모든 공유지 및 향상된 SPM 최빈값을 기능을 제공합니다.
  • 검사 헤드에 있는 통합 전자공학은 전기 SPM 최빈값에 있는 저잡음 가치를 보장합니다.
  • DualScope™ 95 다중 마운트는 nanoindenters, 광학적인 현미경, 등등 같이 DME 단계 그리고 그밖 기능으로 DualScope™ 95 SPM 스캐너의 임명을 허용합니다.

DME 항해자 220™가 풀어 놓였기 때문에, 계산서 AFM를 가진 이 반점" 더 이상 확실하다는 것을 없다는 것을 "당신이 결코 다시 찾아낼. DME DS 95 항해자 220™는 AFM에서 견본을 제거한 후에도 지역을 다시 조사하는 것을 가능하게 합니다. 참고에 기지를 두어 시스템 발견을 정밀도 더 나은 그 후에 250nm를 가진 관심 분야 구축합니다.

진도를 두는 전부는 충분히 자동 적이고 고도로 안정되고 그로 인하여 완벽합니다 장기와 일박 측정 실행에 있는 단 하나 견본에 다중 구조상 특징을 분석하기 위하여. 간섭계에 기지를 둔 직책 시스템에 비교해 투자 노력은 대등한 성과를 제공해서 극적으로 감소됩니다. 주요 응용 프로그램 지역은 양 점의 표면, CNTs, nano 입자, 성장 및 얇은 층/필름 등등의 functionalisation 같이 다단계 프로세스의 e 光速 석판인쇄술, 석판인쇄술 가면, nanoimprints 및 분석의 품질 관리입니다.

Last Update: 15. July 2013 04:45

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