Navegador 220 do DME - Repetibilidade Alta SPM/Fase do AFM

Navegador 220 do DME - Repetibilidade Alta SPM/Fase do AFM

Com o DualScope™ 95 séries do varredor de SPM, DME fornecem a unificação final da acessibilidade e do desempenho. A experiência durável de uma década no campo da aplicação de SPM e a fabricação são unidas nos varredores do DS 95 SPM para ajudar o usuário a conseguir os melhores e resultados os mais seguros no período de tempo possível o mais curto.

  • O projecto compacto taxas proeminentes da estabilidade e de varredura das garantias do varredor de DualScope™ das 95 SPM.
  • A troca apto para a utilização original do modilhão fixa o funcionamento rápido e seguro do instrumento.
  • Uma linha central óptica integrada no varredor de SPM fornece o controle visual total durante a aproximação e o posicionamento.
  • O varredor de DualScope™ 95 SPM fornece as facilidades para toda a terra comum e modos avançados de SPM.
  • A eletrônica Integrada na cabeça de varredura garante os mais baixos valores do ruído em modos elétricos de SPM.
  • A multi montagem de DualScope™ 95 permite a instalação do varredor de DualScope™ 95 SPM em fases do DME e em outras facilidades como nanoindenters, microscópios ópticos, Etc.

Desde Que o Navegador 220™ do DME foi liberado, a indicação “que Você encontrará nunca outra vez que este ponto com seu AFM” é já não verdadeiro. O Navegador 220™ do DME DS 95 permite de investigar outra vez um e a mesma área mesmo depois a remoção da amostra do AFM. Baseado na referência estrutura os achados do sistema a área de interesse com uma precisão melhor então 250nm.

O todo que posiciona o progresso é completamente automático e altamente estável e desse modo perfeito analisar características estruturais múltiplas em uma única amostra em corridas a longo prazo e durante a noite da medida. Comparado aos sistemas de posicionamento baseados interferómetro o esforço do investimento é reduzido dramàtica fornecendo um desempenho comparável. As áreas de aplicação principal são controle da qualidade da litografia do e-feixe, das máscaras da litografia, dos nanoimprints e da análise de processos multistep como o functionalisation das superfícies, do CNTs, de partículas nano, de crescimento de pontos do quantum e de camadas finas/filmes Etc.

Last Update: 15. July 2013 04:47

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