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Escenario del Granito del DME para el DualScope 95 SPM

Con el DualScope™ 95 series del analizador de SPM, DME proporcionan a la unificación final de la facilidad de empleo y del funcionamiento. La experiencia duradera de una década en el campo de la aplicación de SPM y la fabricación se unen en los analizadores del DS 95 SPM para ayudar al utilizador a lograr los resultados mejores y más seguros del periodo de tiempo posible más corto.

  • El diseño compacto de los 95 SPM tipos excepcionales de la estabilidad y de exploración de las garantías del analizador de DualScope™.
  • El intercambio voladizo listo para el uso único asegura la operación rápida y segura del instrumento.
  • Un eje óptico integrado en el analizador de SPM proporciona a mando visual total durante la aproximación y la colocación.
  • El analizador de DualScope™ 95 SPM proporciona a los recursos para todo el campo común y modos avanzados de SPM.
  • La electrónica Integrada en la carga de exploración garantiza los valores más de poco ruido en modos eléctricos de SPM.
  • El montaje multi de DualScope™ 95 permite la instalación del analizador de DualScope™ 95 SPM en escenarios del DME y otros recursos como nanoindenters, los microscopios ópticos, el Etc.

El pequeño escenario del granito del DME proporciona a la posibilidad de investigar casi todas las muestras por SPM. De un divisor de un fulminante revestido a un implante quirúrgico nanocoated conjunto, el pequeño escenario del granito le sorprenderá con su adaptabilidad. De Tal Modo, el diseño no hace ningún compromiso referente a estabilidad. La Exploración de capas atómicas en un escritorio estándar es posible.

El diseño abierto del analizador de la punta da acess de la muestra del sitio gratis y una variedad de escenarios XY a elección del traductor y especiales de la medición como célula del escenario o del líquido del control de la temperatura.

Los escenarios Modificados para requisitos particulares de la iluminación o de la muestra y el casquillo de la muestra para los objetos exótico dados forma de la muestra pueden ser proporcionados.

Last Update: 22. June 2012 13:20

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