Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

DME BRR-Mikroskop - Hybrides SEM/FLUGHANDBUCH für Kombinierte OberflächenScannen-Maße

Das BRR-Mikroskop von DME ist eine Vereinheitlichung eines Rasterelektronenmikroskops mit einem Atomkraftmikroskop. Es vereinigt das Beste beider Welten, ohne Leistungskompromisse für beide Bauteile zu machen. Die folgenden Eigenschaften machen das BRR-Mikroskop eine weltweite eindeutige Anlage:

  • Basiert auf dem FLUGHANDBUCH DME-UHV und dem Querträger-Arbeitsplatz Carl Zeisss Auriga®

  • Der Querträgerpunkt von SEM und von FLUNKEREI liegt an der freitragenden Spitze. Die Auslegung als Beispielscanner erlaubt Kombinationsmaße aller drei Techniken genau am gleichen Punkt im Platz und auf der Probe

  • Einzelne Programmschnittstelle für SEM- und FLUGHANDBUCH-Bauteile

  • SEM-Betrachtungswinkel von 0° zu 85° beim Halten minimalen SEM-Arbeitsabstands von 5 mm

  • Freitragende Spitze und Probe können durch FLUNKEREI in 0° und 54° Stellung, die in-situspitze erreicht werden, die durch die unterstützte worden FLUNKEREI schärft

  • Geläufiger Datenspeicher von FLUGHANDBUCH- und SEM-Bildern

  • Stütz-einfache Änderung zwischen FLUGHANDBUCH und Standard-Auriga®-Funktionalität durch Benutzer exchangable SEM-Klappe

  • Unbegrenzte Funktionalität durch die Anwendung aller Standard-FLUGHANDBUCH-Kragbalken, keine Activefühler benötigt

  • Unterstützt alle geläufigen FLUGHANDBUCH-Betriebsarten

  • Extrem stabile Abfrageschaltung bestimmt für dreidimensionale einzelne Atomauflösung

  • Automatische Laser-/Detektorausrichtung auf freitragender Änderung

  • Update von existierendem Auriga® SEMs zu BRR-Funktionalität möglich durch einfachen Klappenaustausch

  • Scanner Bedingung: Arbeitsbereich (x-yx Z) 10 µm x X 10 µm x 1 µm, wirkliche Auflösung subatomar in allen drei Abmessungen

Das FLUGHANDBUCH-Bauteil des BRR wird mit einem klassischen Laser-Ausschlagbefund ausgerüstet, der angenommen worden ist, um einen sehr kurzen Arbeitsabstand für die SEM-Spalte von 5 mm zu gewähren. Beim Halten dieses Arbeitsabstands, kann das FLUGHANDBUCH von 0° zu 85° ungefähr gekippt werden, um eine Draufsicht und eine Seitenansicht zu ermöglichen. Ein extrem kurzer mechanischer Regelkreis von Spitze zu Probe garantiert höchster Stabilität. Der Scanner liefert wirkliche einzelne Atomauflösung in allen drei Abmessungen.

Nicht zuletzt die vorgelagerten Garantien der integrierten Software eine sichere und glatte einfache Sammlung des Arbeitsablaufs sowie der Unterstützungen und eine Kombination der verschiedenen Baumuster von Maßdaten.

Last Update: 15. July 2013 04:42

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment