Introducción
El Mythen 1K de DECTRIS ofrece la calidad de alta velocidad y superior de los datos para una variedad de aplicaciones desafiadoras de la difracción de Radiografía. Es un detector unidimensional de la cinta del silicio que trabaja usando modo que cuenta de fotón único.
Características Salientes
Las características Exclusivas de Mythen 1K son:
- Es compacto
- Tiene una alta velocidad de fotogramas
- Tiene un alto ángulo de la captura
- Es un sistema listo para utilizar
- Sistema Enfriado Por Aire
- Operación y manipulación Simples
- Sistema Completo con su propio sistema del detector y de mando del detector - tres diversos sistemas de mando del detector son proporcionados Actualmente por DECTRIS
- El sistema Grande del multi-detector puede ser formado combinando 24 detectores, para facilitar el cubrimiento de ángulos grandes
- Capacidades Excepcionales a través de todos los sistemas del detector de DECTRIS
Pliegos De Condiciones Técnicos
Los pliegos de condiciones técnicos de Mythen 1K son:
| Sensor | silicio Reverso-En polarización negativa de array de diodos |
| Espesor del Sensor | 320 mm |
| Talla de la Cinta | 50 mm |
| Formato | 1280 cintas |
| Área Activa | 8 x 64 milímetros2 |
| Rango dinámico | 24 dígitos binarios (1:16,777,216) |
| Tipo Que Cuenta por el pixel | > 2 x 105 por cinta (para 8 keV; configuraciones estándar del avance) |
| Rango de la Energía | 5 - 30 keV |
| Eficiencia de Quantum (calculada) | 5 keV: ~ el 90%
8 keV: ~ el 96%
15 keV: ~ el 49%
30 keV: ~ el 8% |
| Rango Ajustable del umbral | 5 - 20 keV |
| Tiempo de la Lectura | 0,3 ms |
| Tipo Que Enmarca | 25 Hertz (24 dígitos binarios)
300 Hertz (16/8 dígito binario)
600 Hertz (dígito binario 4) |
| Enfriamiento | Aire enfriado |
Consumo de Energía | 5 W | | Detector de las Dimensiones (WHD) | ~ 72 x 100 X.25 milímetro |
| Dimensiones DCS1 (WHD) | ~ 200 x 180 x 50 milímetros |
| Peso | ~ 400 g |
Aplicaciones
Las aplicaciones de Mythen-1K son:
- Difracción de Radiografía
- Análisis de la Fase
- experimentos Tiempo-Resueltos
- prueba no destructiva
- Difracción del Polvo
- Textura y análisis de la película fina