DLF-1200 レーザーのフラッシュ分析のための TA の器械からのフラッシュ拡散係数システム

DLF-1200 レーザーのフラッシュ分析のための TA の器械からのフラッシュ拡散係数システム

TA の器械によって提供される温度伝導率を測定するためのすべての高度のツールはフラッシュ方法を使用して 1200°C まで設計されています。

この方法はさまざまな熱特性が付いている材料の測定の確定熱容量そして熱伝導度を可能にします。 すべてのツールは複数の標本のテストの機能が装備され、それにより生産性および比熱容量の測定を高めます。 ツールはフルタイムパルスのマップ、精密光学および現在のデータ解析が可能です。

発見のフラッシュデータ解析のソフトウェアは損失熱の訂正のために複数の現在の方法を使用します。 例えば、クラークおよびテイラー方法は放射の損失熱、有限なパルス幅および非等温ローカルサンプル状態に基づいて温度伝導率を調整するためにように非常に精密な基本的な目的プロシージャ使用されます。 従ってソフトウェアに構築される 20 以上の分析モデルおよび訂正プログラムがありますべてのタイプの材料に最大精密を提供します。

使用できるモデルのいくつかは下記のものを含んでいます:

  • Heckman
  • Degiovanni
  • Parker
  • Cowan
  • Koski
  • 最小二乗
  • 対数

ツールの探知器は環境のモジュールの動作温度範囲に一致させるために設計されています。 適当に高温度の測定の場合には、インジウムのアンチモン化物 (InSb) IR の探知器は使用されます。 IR の探知器は液体窒素と安定した出力および最も高い反復性を保障するために冷却することができます。

主要特点

TA の器械のの主な特長は」フラッシュ拡散係数システム次の通りあります:

  • フラッシュ方法は ASTM E2585、 ASTM E1461、 DIN 30905、 DIN EN821、 ISO 22007-4 で広く受け入れられ、文書化されます: 2008 年および ISO の 18755:2005
  • t0 の極めて正確な決定とつながれるパルス形およびパルス幅の訂正の計算の無比の精密
  • 高い感度、速い応答センサー
  • 一時的な温度変化の精密な測定
  • 工場一直線に並べられた探知器はユーザーの交換かアラインメントを含みません

Last Update: 31. October 2014 07:33

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