Soporte AFM Solo de MFP-3D™ de la investigación del Asilo

Soporte AFM Solo de MFP-3D™ de la investigación del Asilo

El Microscopio Atómico de la Fuerza (AFM), ha sido el instrumento de la opción para las mediciones tridimensionales en la escala del nanómetro. Con el Soporte (MFP-3D-SA) AFM Solo de MFP-3D, los científicos pueden ahora elegir un AFM sensible y exacto con el funcionamiento más de poco ruido que también incluye un entorno informático científico completo. El MFP-3D-SA es ideal para muchas aplicaciones incluyendo la física, la ciencia material, los polímeros, la química, el nanolithography, la ciencia biológica, y las mediciones cuantitativas del nanoscale. El MFP-3D tiene la adaptabilidad de detectar sus datos, la analiza, e incluso hace gráficos publicación-listos. Su imaginación es su solamente límite.

Innovaciones Técnicas

  1. Sensored, bucle cerrado que coloca para la proyección de imagen, la exactitud, y la reproductibilidad de alta resolución.
  2. Promoción del controlador aéreo completamente digital para la adaptabilidad, la potencia y la adaptabilidad abiertas del software.
  3. Características avanzadas Incorporadas tales como representación en tiempo real 3D, nanolithography/nanomanipulation, y Modo Doble de AC™ para la resonancia doble y la proyección de imagen armónica.
  4. Diseñado para la adaptabilidad y la capacidad de expansión, con una amplia gama de opciones del sistema disponible, ambientales y de la aplicación de aumentar capacidades, incluyendo el nanoindentation y la Microscopia de la Fuerza de Piezoresponse (PFM).

Carga de MFP-3D

La palanca óptica de Sensored con la difracción limitó la óptica y una fuente de luz de la coherencia inferior elimina virtualmente los artefactos de la interferencia. El eje sensored NPS™ de Z proporciona a mediciones exactas de la posición voladiza para las mediciones exactas de la fuerza y de la topografía.

Analizador XY de MFP-3D

El MFP-3D utiliza un analizador flexured y patentó los sensores de NPS que miden la posición exacta de cada eje (X-Y). Corrigen para la histéresis y se arrastran, proporcionando a exploraciones de la parte plana y a la capacidad de empinadura y de compensar exactamente con un clic del ratón.

Base de MFP-3D

Tres configuraciones para iluminar y ver su muestra:

  • Visión Superior para las muestras opacas
  • Visión Inferior para las muestras transparentes
  • Visión Doble para ambas opciones de la visión

Adaptabilidad completamente digital del Controlador Aéreo y del Software de ARC2™

La configuración Completamente digital permite que virtualmente la operación de sistema entera sea controlada a través de la interfaz de MFP (IGOR Favorable) para la adición fácil de las nuevas capacidades del microscopio.

  • el 100% digital para la operación de poco ruido, rápida, y la adaptabilidad
  • Procesador del Arsenal de Entrada Programable (FPGA) del Campo y de Señal Digital (DSP)
  • Conversiones de analógico a digital/de digital a analógico Rápidas

Last Update: 8. May 2014 08:00

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