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Gabarit de MFP-3D™ Seul AFM de recherche d'Asile

Le Microscope Atomique de Force (AFM), a été l'instrument du choix pour des mesures en trois dimensions à l'échelle de nanomètre. Avec le Gabarit de MFP-3D Seul (MFP-3D-SA) AFM, les scientifiques peuvent maintenant choisir un AFM sensible et précis avec la performance la plus à faible bruit qui comprend également un environnement logiciel scientifique complet. Le MFP-3D-SA est idéal pour beaucoup d'applications comprenant la physique, la science des matériaux, les polymères, la chimie, le nanolithography, les biosciences, et les mesures quantitatives de nanoscale. Le MFP-3D a la souplesse de saisir vos données, l'analyse, et effectue même les graphiques publication-disponibles. Votre imagination est votre seulement limite.

Innovations Techniques

  1. Sensored, boucle bloquée positionnant pour la représentation, l'exactitude, et la reproductibilité de haute résolution.
  2. Lancement du Contrôleur tout-digital pour l'adaptabilité ouverte de logiciel, puissance et souplesse.
  3. Fonctionnalité avancée Intrinsèque telle que le rendu 3D en temps réel, le nanolithography/nanomanipulation, et le Double Mode d'AC™ pour la double résonance et la représentation harmonique.
  4. Conçu pour la souplesse et l'expansibilité, avec un large éventail d'options de système disponible, environnementales et d'application de renforcer le potentiel, y compris le nanoindentation et la Microscopie de Force de Piezoresponse (PFM).

Tête de MFP-3D

La manette optique de Sensored avec la diffraction a limité le bloc optique et une source lumineuse de cohérence faible élimine presque entièrement des artefacts d'interférence. L'axe de Z sensored par NPS™ fournit des mesures précises de la position en porte-à-faux pour des mesures précises de force et de topographie.

Balayeur DE X/Y de MFP-3D

Le MFP-3D utilise un balayeur flexured et a breveté les senseurs de NPS qui mesurent la position exacte de chaque axe (DE X/Y). Ils rectifient pour l'hystérésis et fluent, fournissant des échographies plates et la capacité exactement de changer de plan et compenser avec un claquement de souris.

Base de MFP-3D

Trois configurations pour illuminer et visualiser votre échantillon :

  • Première vue pour les échantillons opaques
  • Vue Inférieure pour les échantillons transparents
  • Double vue pour les deux options de visionnement

Souplesse Tout-Digitale de Contrôleur et de Logiciel d'ARC2™

la configuration Tout-Digitale permet pratiquement à l'exploitation du système entière d'être réglée par l'interface du logiciel de MFP (IGOR Pro) pour l'ajout facile des capacités neuves de microscope.

  • 100% digital pour le faible bruit, le fonctionnement rapide, et la souplesse
  • Réseau Prédiffusé et Processeur de Signaux Numériques (FPGA) Programmable de Zone (DSP)
  • Analogique-numérique Rapide/conversions numériques analogiques

Last Update: 15. July 2013 04:41

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