Cryogen 自由的水平的場磁體探測崗位 - 湖岸設計 CRX-EM-HF

Cryogen 自由的水平的場磁體探測崗位 - 湖岸設計 CRX-EM-HF

這個設計 CRX-EM-HF 是一個動態 cryogen 自由的基於電磁體的微小被操作的探測崗位,發現在設備非破壞性的測試的應用充分和部分薄酥餅 25 mm (1) 直徑。 此平臺用於評定電子光學,電,參數, DC,測試設備和材料高 Z、 RF 和微波屬性。 Quantum 電匯和小點、 nanoscale 電子以及半導體是在 CRX-EM-HF 被評定的材料。 電纜的一個各種各樣的選擇,探測、範例持有人和選項幫助配置 CRX-EM-HF 滿足特定評定應用。

CRX-EM-HF 在 Sumitomo 4 K 基準溫度 CCR 基礎上,用 6.0 kOe (0.6 T) 水平的 (飛機) 領域電磁體裝備。 高效的溫度運算和控制對溫度範圍的 8 K 到 400 K 被啟用,无需導致液體 cryogens 營業費用。 一個替代可互換的高溫範例階段提供溫度範圍的 20 K 到 500 K。 傳感器和加熱器提供進入每個低溫階段啟用快速熱量回應和為範例替換迅速做準備。 這個系統用有效地冷卻裝備保護該截住黑體輻射在到達這個範例的它之前保證小的熱量梯度。

設計對價被採取為了提供用戶友好,低振動工具。 阻止和集成振動動擺保證機械振動不影響評定。 範例階段振動通過全方位溫度範圍被限制少於 1 µm (X、 Y 和 Z 軸)。 CRX-EM-HF 的用戶配置完成至四個很穩定的微型被操作的階段精密地登陸在設備功能的探測技巧的探測位置的每個提供的準確三軸的控制。 轉動關於其軸的每探測 ±5° (planarized) 是可能的保證多技巧探測與這個範例適當地對齊。 360° 範例階段循環選項啟用評定 DUT 的有角從屬和非均質性的磁電機運輸屬性。 在範圍和材料的範圍的所有權探測技巧減少熱量質量并且優選電觸點對 DUT。 熱量鏈接探測技巧完成對範例階段使熱傳遞減到最小到 DUT。

關鍵功能

設計 CRX-EM-HF 探測崗位的關鍵功能是:

  • 6.0 kOe (0.6 T) 水平的 (飛機) 領域電磁體
  • 封閉循環冰箱提供從 8 K 的高穩定性 cryogen 自由的運算到 400 K
  • 控制穩定性到 10 mK
  • 抽樣替換循環時間少於 4.5 h
  • 低振動設計少於 1 µm 在範例階段 (X、 Y 和 Z 軸)
  • 360° 範例階段循環選項
  • 從 DC 的評定到 67 GHz
  • 適應 25 mm 或 1 在直徑薄酥餅
  • 可配置與四熱量地停住的微型被操作的探測武裝
  • 探查有 3 軸調整和 ±5° planarization 的胳膊
  • 電纜、盾和衛兵使電子噪聲和熱輻射損失減到最小
  • 選項和輔助部件定製的對特定研究需要

Last Update: 4. September 2012 03:42

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