Cryogen なしの縦フィールド Superconducting 磁石のプローブ端末 - 湖の海岸モデル CRX-VF

モデル CRX-VF は 51 の mm の直径まで部分的で、完全なウエファーの装置の NDT に使用する広範囲の、 cryogen なしのマイクロ処理されたプローブ端末です。 CRX-VF はテスト装置および材料の電気光学、電気、パラメーター付き、 DC、 RF、高Z およびマイクロウェーブ特性を測定するのに使用されるプラットホームです。 Quantum のワイヤーおよび点、 nanoscale の電子工学、半導体および spintronic 装置は CRX-VF で測定される標準材料です。 ケーブルの広い選択、プローブ、サンプルホールダーおよびオプションは特定の測定アプリケーションを満たすために CRX-VF の設定を助けます。

Sumitomo 単一の 4 K の基準温度 CCR によって、 CRX-VF は最大 22.5 KOe (T) 2.25 が可能な縦フィールド superconducting 磁石を与えられます。 それは液体の cryogens の操業費なしで 500 K に 10K の温度較差の効率的な温度操作そして制御を提供します。 各々の低温学の段階はヒーターおよびセンサーをサンプル交換のための速い熱応答そして急速なウォーミングアップを提供するために与えられます。 黒体放射は実行中に冷却された保護によって小さい熱勾配を保証するサンプルに達する前に代行受信されます。

CRX-VF は装置機能でプローブの先端を正確に上陸させるために 6 つまでの超安定したマイクロ処理されたプローブアームによって設定されるユーザー各々の提供の正確な 3 つの軸線のプローブの位置制御です。 各プローブはまた複数の先端のプローブがサンプルと正しく一直線に並ぶことを確かめる軸線についての回された ±5° (planarized) である場合もあります。 テストの下で装置に高インピーダンスの、低雑音または高く熱接触のための DC の測定の最適化することは可能です (DUT)。 67GHz までの構成は RF の測定に含まれています。 任意選択光ファイバプローブアーム修正または眺めポートの Windows を通して光学ソースをもたらすことは可能です。 専有プローブアームはサイズおよび材料の範囲で使用できます熱大容量を最小化するために、また DUT に電気接触を最適化して。

DUT への熱伝達を最小化するためになお、プローブの先端は放射保護に熱的にリンクされます。

モデル CRX-VF の主要特点は端末を厳密に調べます

モデル CRX-VF プローブ端末の主要特点は次のとおりです:

  • 22.5 kOe (2.25 T) 縦フィールド superconducting 磁石
  • クローズド・サイクル冷却装置は 10 K からの 500 K に安定性が高い cryogen なしの操作を提供します
  • 10 mK への制御安定性
  • 低い振動デザインより少しサンプル段階 (X、 Y および Z の斧) のより 1 つの µm
  • DC からの 67 の GHz への測定
  • 低雑音、高周波かまたは高いインピーダンス測定のために最適化されるホールダーを見本抽出して下さい
  • 51 までの mm (2) の直径のウエファーを取り扱います
  • 6 つまでの熱的に固定されたマイクロ処理されたプローブアームによって設定することができます
  • 三軸の調節および ±5° の planarization のアームを厳密に調べて下さい
  • ケーブル、盾および警護は電気騒音および熱放射の損失を減らします
  • 特定の研究の必要性へのカスタマイゼーションのためのオプションそしてアクセサリ

Last Update: 4. September 2012 05:51

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