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PeakForce Kelvin Block der Kraft-Fühler-Mikroskopie-(KPFM) für AtomKraft-Mikroskope von Bruker

Kelvin-Fühlerkraftmikroskopie (KPFM) bildet elektrostatisches Potenzial an den Beispieloberflächen ab, Informationen über die elektronische Zelle zur Verfügung zu stellen und lackiert waagerecht ausgerichtete Schwankungen, aufgefangene Ladungen und chemische Identität der Anwendungen, die von organischer photovoltaics Forschung bis zu Silikon und breiter bandgap Halbleiterkennzeichnung reichen.

Brukers Block PeakForce KPFM™ für die Abmessung Icon® und MultiMode® 8 AFMs kombiniert den ganzen Satz von KPFM-Befundvorrichtungen, einschließlich Amplitude und Frequenzmodulation, mit TappingMode™ und PeakForce Tapping™, um direkt aufeinander bezogene quantitative nanomechanical Daten zur Verfügung zu stellen. Das Ergebnis ist verbesserte Empfindlichkeit der Frequenzmodulationsmaße und -immunität zu den Artefakten vom mechanischen Übersprechen.

Darüber hinaus liefert PeakForce KPFM einen vollständig automatisierten Parameter, der mit ScanAsyst® montiert wird. Das Ergebnis ist eine beträchtliche Verbesserung in den quantitativen möglichen Oberflächendaten für Materialien Forschung sowie Halbleiteranwendungen.

Die Komplette KPFM-Lösung

  • Genaueste, wiederholbarste und empfindliche Austrittsarbeitmaße
  • Führende Ortsauflösung kombiniert mit Artefakt-freiem möglichem Kontrast
  • Aufeinander bezogenes quantitatives nanomechanical Eigentumsabbilden PeakForce QNM®
  • ScanAsyst®-Benutzerfreundlichkeit und optimierte Ergebnisse

Last Update: 11. September 2012 10:43

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