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Modulo di Microscopia della Sonda della Forza di PeakForce Kelvin (KPFM) per i Microscopi Atomici della Forza da Bruker

La microscopia della forza della sonda di Kelvin (KPFM) mappa il potenziale elettrostatico alle superfici del campione di fornire informazioni sulla struttura elettronica, verniciante le variazioni livellate, le spese bloccate e l'identità chimica nelle applicazioni che variano dalla ricerca organica di photovoltaics al silicio ed all'ampia caratterizzazione a semiconduttore del bandgap.

Il modulo del PeakForce KPFM™ di Bruker per la Dimensione Icon® e MultiMode® 8 AFMs combina l'insieme completo dei meccanismi di rilevazione di KPFM, compreso ampiezza e modulazione di frequenza, con sia TappingMode™ che PeakForce Tapping™ per fornire i dati nanomechanical quantitativi direttamente correlati. Il risultato è la sensibilità migliore delle misure e dell'immunità di modulazione di frequenza ai artefatti dall'interferenza meccanica.

Inoltre, PeakForce KPFM fornisce un parametro completamente automatizzato installato con ScanAsyst®. Il risultato è un miglioramento significativo nei dati potenziali di superficie quantitativi per i materiali la ricerca come pure le applicazioni a semiconduttore.

La Soluzione Completa di KPFM

  • Misure più accurate, più ripetibili e sensibili di funzione di lavoro
  • La risoluzione spaziale Avanzata si è combinata con contrasto potenziale artefatto artefatto
  • PeakForce QNM® ha correlato la mappatura nanomechanical quantitativa dei beni
  • Facilità d'uso di ScanAsyst® e risultati ottimizzati

Last Update: 11. September 2012 10:44

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