Bruker からの原子力の顕微鏡のための PeakForce ケルビン力のプローブの顕微鏡検査 (KPFM) のモジュール

ケルビンのプローブ力の顕微鏡検査は (KPFM)サンプル表面で静電気の潜在性を有機性 photovoltaics の研究からケイ素および広い bandgap の半導体の性格描写まで及ぶアプリケーションの水平な変化、引っ掛けられた料金および化学識別を添加する電子構造についての情報を提供するマップします。

次元 Icon® および MultiMode® 8 AFMs のための Bruker の PeakForce KPFM™のモジュールは TappingMode™および PeakForce 両方 Tapping™と直接関連させた量的な nanomechanical データを提供するために KPFM の検出のメカニズムの完全セットを、振幅および周波数変調を含んで、結合します。 結果は機械混線からの人工物へ周波数変調の測定および免除の改善された感度です。

さらに、 PeakForce KPFM はセットアップされる ScanAsyst® と完全に自動化されたパラメータを提供します。 結果は材料研究、また半導体のアプリケーションの量的な表面の潜在的なデータの重要な改善です。

完全な KPFM の解決

  • 最も正確で、最も反復可能で、敏感な仕事関数の測定
  • 先端の空間分解能は人工物なしの潜在的な対照と結合しました
  • PeakForce QNM® は量的な nanomechanical 特性のマップを関連させました
  • ScanAsyst® の使い易さおよび最適化された結果

Last Update: 11. September 2012 10:44

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