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Módulo da Microscopia da Ponta De Prova da Força de PeakForce Kelvin (KPFM) para Microscópios Atômicos da Força de Bruker

O potencial electrostático dos mapas da microscopia (KPFM) da força da ponta de prova de Kelvin na amostra surge para fornecer a informação sobre a estrutura eletrônica, lubrificando variações niveladas, cargas prendidas, e a identidade química nas aplicações que variam da pesquisa orgânica do photovoltaics ao silicone e à caracterização larga do semicondutor do bandgap.

O módulo do PeakForce KPFM™ de Bruker para a Dimensão Icon® e MultiMode® 8 AFMs combina o grupo completo de mecanismos da detecção de KPFM, incluindo a amplitude e a modulação de freqüência, com o TappingMode™ e o PeakForce Tapping™ para fornecer dados nanomechanical quantitativos directamente correlacionados. O resultado é sensibilidade melhorada das medidas e da imunidade da modulação de frequência aos produtos manufacturados da interferência mecânica.

Além, PeakForce KPFM fornece um parâmetro completamente automatizado setup com o ScanAsyst®. O resultado é uma melhoria significativa em dados potenciais de superfície quantitativos para materiais pesquisa assim como aplicações do semicondutor.

A Solução Completa de KPFM

  • As medidas as mais exactas, as mais repetíveis, e sensíveis da função de trabalho
  • A definição espacial da Vanguarda combinou com o contraste potencial produto-livre
  • PeakForce QNM® correlacionou o traço nanomechanical quantitativo da propriedade
  • Acessibilidade de ScanAsyst® e resultados aperfeiçoados

Last Update: 11. September 2012 10:44

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