PeakForce 凯尔文强制探测基本强制显微镜的显微学 (KPFM) 模块从 Bruker

凯尔文探测强制显微学 (KPFM)映射静电潜在范例表面关于电子结构的情报,掺杂级别变化、被困住的充电和化工身分在范围从有机 photovoltaics 研究的应用上到硅和宽 bandgap 半导体描述特性。

Bruker 的维数的 Icon® 和 MultiMode® 8 AFMs PeakForce KPFM™模块与 TappingMode™和 PeakForce Tapping™结合 KPFM 检测结构完整集,包括高度和调频,提供直接地关联的定量 nanomechanical 数据。 这个结果是调频评定和免疫的被改进的区分对从机械干扰的人工制品。

另外, PeakForce KPFM 提供被设置的一个完全地自动化的参数与 ScanAsyst®。 这个结果是在定量表面潜在的数据的重大的改善为材料研究以及半导体应用。

完全 KPFM 解决方法

  • 最准确,最可重复和敏感功函评定
  • 前进空间分辨率结合了以人工制品自由的潜在的对比
  • PeakForce QNM® 关联定量 nanomechanical 属性映射
  • ScanAsyst® 易用和优化结果

Last Update: 11. September 2012 10:43

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