PeakForce 凱爾文強制探測基本強制顯微鏡的顯微學 (KPFM) 模塊從 Bruker

凱爾文探測強制顯微學 (KPFM)映射靜電潛在範例表面關於電子結構的情報,摻雜級別變化、被困住的充電和化工身分在範圍從有機 photovoltaics 研究的應用上到硅和寬 bandgap 半導體描述特性。

Bruker 的維數的 Icon® 和 MultiMode® 8 AFMs PeakForce KPFM™模塊與 TappingMode™和 PeakForce Tapping™結合 KPFM 檢測結構完整集,包括高度和調頻,提供直接地關聯的定量 nanomechanical 數據。 這個結果是調頻評定和免疫的被改進的區分對從機械干擾的人工製品。

另外, PeakForce KPFM 提供被設置的一個完全地自動化的參數與 ScanAsyst®。 這個結果是在定量表面潛在的數據的重大的改善為材料研究以及半導體應用。

完全 KPFM 解決方法

  • 最準確,最可重複和敏感功函評定
  • 前進空間分辨率結合了以人工製品自由的潛在的對比
  • PeakForce QNM® 關聯定量 nanomechanical 屬性映射
  • ScanAsyst® 易用和優化結果

Last Update: 11. September 2012 10:43

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