Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • NanoTest Vantage a complete nanomechanical and nanotribological test solution

Спектрометр Флуоресцирования Рентгеновского Снимка Полного Отражения NANOHUNTER (TXRF) Benchtop

NANOHUNTER, победитель R&D 2007 100 награждают, сильно новаторский продукт был конструирован специфически для того чтобы предложить всесторонние материалы следа и конструировать возможности анализа характеризации к широкому диапазону дисциплин исследования и в сильно разнообразных аналитически методах чем было возможен с прежней технологией.

Аппаратура облегчает анализ без разрушения прослеживающего элемента для химиков, геологов, биологов, biochemists, инженеров и материальных научных работников с минимальной к никакой подготовке образца для применений spanning от исследования metallo-протеина к метрологии относящой к окружающей среде оценки и вафли полупроводника.

Предлагая и элементный анализ след-уровня и оценка физической природы образца, NANOHUNTER используют запатентованную switchable длину волны и автоматизированное переменное возбуждение угла падения Рентгеновского Снимка конструирует. Аппаратура может изучить полный ряд элементов, от алюминия (Al) к урану (U), в твердых телах, жидкостях, и порошках. Химическая информация также обеспечена как функция глубины анализа для профилировать поверхностные характеристики материалов. Например, для исследователей, котор включили в нанотехнологию, эта способность позволяет поверхностные слои быть охарактеризованным как выпарка на субстрате, однородном тонком фильме, или как что-то in-between.

Чувствительность NANOHUNTER наравне с индуктивно соединенной спектроскопией оптически излучения плазмы (ICP-OES) и она обеспечивает част-в-миллиард (PPB) ровные пределы обнаружения в польностью автоматизированном инструменте. Сразу измерение выпарок на ровной поверхности обеспечивает свободу от сложных пищеварения или подготовки образца и делает этот спектрометр соответствующей для заменять или дополнять традиционные методы атомной спектроскопии. Сравнивано к другим методам атомной спектроскопии уровня следа, революционный аспект NANOHUNTER в минимальном необходим уровне подготовки образца. Пока использующ NANOHUNTER, никакая потребность для внешнего оборудования как клобуки перегара и дигесторы микроволны, которые связаны с анализом прослеживающего элемента в влажной окружающей среде лаборатории.

Главные Особенности

Характеристики продукта NANOHUNTER являются следующими:

  • Анализ элементов от Al к U
  • autosampler 16-position
  • лицевая сторона анализ для максимальной гибкости
  • Принимает большие образцы (до 10 x 10 см и 5 mm толщино)
  • Пробка над оптикой уменьшает вопросы загрязнения
  • Анализ прослеживающего элемента
  • Отсутствие пищеварения образца
  • Отсутствие потребляемых веществ
  • без разрушения
  • Част-В-миллиард (PPB) пределы обнаружения
  • Угол Переменного падения для профилировать глубины тонких фильмов
  • Двойные пробки Рентгеновского Снимка для главной чувствительности и изначального охвата
  • Выполните флуоресцентный анализ Рентгеновского Снимка скользящего падения (GIXRF)
  • Выполните флуоресцентный анализ Рентгеновского Снимка полного отражения (TXRF)
  • Компактируйте конструкцию benchtop с потреблением низкой мощности
  • Соответствующе для передвижных лабораторий

Last Update: 19. October 2012 04:47

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment